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Thetametrisis FR-pRo膜厚仪 膜厚测量仪

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称岱美仪器技术服务(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地上海
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2026/7/8 9:55:57
  • 访问次数44
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??岱美有限公司成立于1989年,是数据存储,半导体,光学,光伏和航空航天行业制造商和创新研发机构的*设备分销商。??在21世纪初期,岱美已从我们在中国香港的总部扩展到亚洲,以满足客户的多样化需求。在当今化的市场中,我们的客户包括连接东南亚各国的综合供应链,我们的专业人员随时准备与他们会面。??我们的总部设在中国香港,在中国大陆地区(北京和上海,以及广东东莞)拥有*的业务。我们还在马来西亚,新加坡,中国台湾地区,菲律宾和泰国等东南亚国 家和地区设有分支机构。岱美拥有训练有素的工程师,能够为各地区用户提供快捷、可靠的技术支持和维修服务;为确保他们的专业知识得以更新及并适应新的要求,岱美定期委派工程师前往海外接受专项技术训练,务求为顾客提供更高质素的售后服务及技术支持。我们的分支机构都已建立数十年,我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。??我们的目标是建立持久的关系,满足东南亚企业快速增长的需求。对于我们的客户,我们不仅提供设备,还提供建议和技术指导,以及时了解我们不断发展的行业的发展。对于我们的供应商,我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲,美国,日本和韩国的*设备与技术连接起来。岱美合作客户??岱美在中国大陆地区主要销售或提供技术支持的产品:??晶圆键合机、纳米压印设备、紫外光刻机、涂胶显影机、硅片清洗机、超薄晶圆处理设备、光学三维轮廓仪、硅穿孔TSV量测、非接触式光学三坐标测量仪、薄膜厚度检测仪、主动及被动式防震台系统、应力检测仪、电容式位移传感器等。??如有需要,请联系我们,了解我们如何开始与您之间的合作,实现您的企业或者组织机构长期发展的目标。注:在大陆地区注册的公司名称为:岱美仪器技术服务(上海)有限公司,并有东莞分公司和北京办事处。
1.产品概述 FR-pRo膜厚仪:按客户的需求量身定制的薄膜特性测量工具
Thetametrisis FR-pRo膜厚仪 膜厚测量仪 产品信息

1. 产品概述

  1. FR-pRo膜厚: 按客户的需求量身定制的薄膜特性测量工具。
  2. FR-pRo膜厚仪是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备,用于测量厚度范围为1nm-1mm 的涂层。
  3. FR-pRo膜厚仪广泛应用于各种不同的应用。 包括:
  4. 吸收率/透射率/反射率测量,薄膜特性在温度和环境控制下甚至在液体环境下的表征等等



2. 膜厚仪应用

  • 大学&研究实验室
  • 半导体行业
  • 高分子聚合物&阻抗表征
  • 电介质特性表征
  • 生物医学
  • 硬涂层,阳极氧化,金属零件加工
  • 光学镀膜
  • 非金属薄膜等等


FR-pRo膜厚仪可由用户按需选择装配模块,和心部件包括光源,光谱仪(适用于 200nm-2500nm 内的任何光谱系统)和控制单元,电子通讯模块。

此外,还有各种各种配件,比如:

  • 用于测量吸收率/透射率和化学浓度的薄膜/试管架;
  • 用于表征涂层特性的薄膜厚度工具;
  • 用于控制温度或液体环境下测量的加热装置或液体试剂盒;
  • 漫反射和全反射积分球。

通过不同模块组合,蕞终的配置可以满足任何终端用户的需求。

3. 膜厚仪规格(Specificatins




4. 膜厚仪配件(Accessries)

电脑

19 英寸屏幕的笔记本电脑/触摸屏电脑

聚焦模块

光学聚焦模块安装在反射探头上,光斑尺寸<100um

薄膜/比色容器

在标准器皿中对薄膜或液体的透射率测量

触式探

于涂层厚度测量和光学测量的配件,适用于弯曲表面和曲面样品

显微镜

高横向分辨率的反射率及厚度显微测量

自动化平台薄膜测绘

带有圆晶卡盘的PolarR-Θ)或 CartesianX-Y)自动化样品台可选,PolarR-Θ)样品台支持反射率测量,CartesianX-Y)样品台支持反射率和透射率测量

积分球组件

测量涂层和表面的镜面反射和漫反射

手动 X-Y 样品台

测量面积为 100mmx100mm 200mmx200mm X-Y 手动平台

加热模块

嵌入FR-tool 中,围由室温~200oC,通过FR-Monitor 运行可编程温控器(0.1 oC 精度).

模块

聚四氟乙烯容器,用通过石英光学窗口测量在液体中的样品。样品夹具,

将样品插入可处理 30mmx30mm 样品的液体中

流通池

中吸光率、微量荧光测量


5. 膜厚仪工作原理

白光反射光谱(WLRS)是测量垂直于样品表面的某一波段的入射光,在经多层或单层薄膜反射后,经界面干涉产生的反射光谱可确定单层或多层薄膜(透明,半透明或全反射衬底)的厚度及 N*K 光学常数。

* 规格如有更改,恕不另行通知; ** 厚度测量范围即代裱光谱范围,是基于在高反射衬底折射率为 1.5 的单层膜测量厚度。

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