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FR-pOrtable:USB膜厚仪

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称岱美仪器技术服务(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地上海
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2026/7/8 10:23:16
  • 访问次数78
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??岱美有限公司成立于1989年,是数据存储,半导体,光学,光伏和航空航天行业制造商和创新研发机构的*设备分销商。??在21世纪初期,岱美已从我们在中国香港的总部扩展到亚洲,以满足客户的多样化需求。在当今化的市场中,我们的客户包括连接东南亚各国的综合供应链,我们的专业人员随时准备与他们会面。??我们的总部设在中国香港,在中国大陆地区(北京和上海,以及广东东莞)拥有*的业务。我们还在马来西亚,新加坡,中国台湾地区,菲律宾和泰国等东南亚国 家和地区设有分支机构。岱美拥有训练有素的工程师,能够为各地区用户提供快捷、可靠的技术支持和维修服务;为确保他们的专业知识得以更新及并适应新的要求,岱美定期委派工程师前往海外接受专项技术训练,务求为顾客提供更高质素的售后服务及技术支持。我们的分支机构都已建立数十年,我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。??我们的目标是建立持久的关系,满足东南亚企业快速增长的需求。对于我们的客户,我们不仅提供设备,还提供建议和技术指导,以及时了解我们不断发展的行业的发展。对于我们的供应商,我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲,美国,日本和韩国的*设备与技术连接起来。岱美合作客户??岱美在中国大陆地区主要销售或提供技术支持的产品:??晶圆键合机、纳米压印设备、紫外光刻机、涂胶显影机、硅片清洗机、超薄晶圆处理设备、光学三维轮廓仪、硅穿孔TSV量测、非接触式光学三坐标测量仪、薄膜厚度检测仪、主动及被动式防震台系统、应力检测仪、电容式位移传感器等。??如有需要,请联系我们,了解我们如何开始与您之间的合作,实现您的企业或者组织机构长期发展的目标。注:在大陆地区注册的公司名称为:岱美仪器技术服务(上海)有限公司,并有东莞分公司和北京办事处。
Thetametrisis膜厚仪FR-pOrtable是一款独特的USB便携式测量仪器,可对透明和半透明的单层或多层堆叠薄膜进行精确的无损测量(非接触式)
FR-pOrtable:USB膜厚仪 产品信息

Thetametrisis膜厚FR-pOrtable是一款独特的USB便携式测量仪器,可对透明和半透明的单层或多层堆叠薄膜进行精确的无损测量(非接触式)。

使用FR-pOrtable,用户可以在380-1020nm光谱范围内进行反射率和透射率测量。

Thetametrisis膜厚FR-pOrtable的精巧简洁的设计以特制的的反射探头及宽带长寿命光源确保了高精度和可重复的便携式测量。

FR-pOrtable既可以安装在提供的载物台上,也可以轻松转换为手持式厚度测量工具。放置在样品上方进行测量。

FR-pOrtable是用工业环境(如Roll-to-Roll、带式输送机等)中涂层实时表征的可靠而精确的测厚仪。

FR-pOrtable现场应用的一款光学测量工具。


1. 应用领域

  • 大学&科研院所
  • 半导体(氧化物、氮化物、硅、电阻等)
  • MEMS元器件(光刻胶、硅薄膜等)
  • LED
  • 数据存储元件
  • 弯曲基材(衬底)上的硬/软涂层
  • 聚合物涂层、粘合剂等
  • 生物医学(parylene——派瑞林,气泡壁厚,等等)
  • 其他更多

2.产品特点

一键分析(无需初始化操作)动态测量

测量光学参数(n&k,颜色)自动保存演示视频

可测量600多种不同材料用于离线分析的多个设置免费软件更新服务

FR-prtable膜厚仪测量.jpg

3. 技术参数

厚度范围

12nm90μm

计算折射率

P

测厚准确度1

0.2%or1nm

测厚精确度2,3

0.02nm

稳定性4

0.05nm

样品规格

1mmto180mm或更大

光谱波段

380nm1020nm

工作距离

3mm-20mm

光斑大小

360um(diameter)

光源寿命

20000h

波长分辨率

0.8nm

可测量膜层堆叠层数

Max.5layers

测量速度

10ms

A/D转换器

16bit

电源

USB-supplied

外形尺寸

300mmx110mmx40mm5

4. 硬件配置

现场适配器:根据测量现场需求

透射率模块:用于测量涂层的透射率和吸收率光谱,涂层厚度等

手动X-Y平台:用于在多个位置对涂层进行表征(手动移动)

5. 工作原理

白光反射光谱(WLRS)测量方法是在一定波长范围内,分析垂直于样品表面的入射光和从单层或多层堆叠薄膜反射的反射光谱的分析方法。

由界面&表面产生的反射光谱被用于确定独立和附着于基底(在透明或部分/全反射基底上)的堆叠膜层的厚度、光学常数(n&k)等。

FR-prtable膜厚仪原理.jpg

*规格如有更改,恕不另行通知,2测量结果与校准的光谱椭偏仪和XRD相比较,3连续15天测量的标准方差平均值.样品:1umSi2nSi.,4100次厚度测量的标准方差,样品:1umSi2nSi.,,52*超过15天的标准偏差日平均值样品:1umSi2nSi.

(如有需求,请与我们联系,点击下图可以了解更多关于Thetametrisis膜厚仪的产品信息)

FR-prtable膜厚仪品牌.jpg

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