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日立手持式CMI165测厚仪适用于温度补偿的表面测量和铜线铜层厚度测量

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  • 公司名称广州仪德精密科学仪器股份有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地广州市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2026/7/23 9:32:38
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广州仪德精密科学仪器股份有限公司创立于2005年,十六年来坚持服务于国内实验分析领域,专注于各类仪器的研究制造与营销服务,是一家专门为客户打造一站式、全链条和“交钥匙”实验室而组建的。仪德从客户的角度出发,竭力为客户考虑!为客户提供实验室分析仪器及设备的解决方案。品质打造品牌,服务提高信誉!
CMI165可对温度实施补偿,在不考虑铜温度的前提下获得准确的检验结果。
日立手持式CMI165测厚仪适用于温度补偿的表面测量和铜线铜层厚度测量 产品信息

温度会影响对铜样品的准确测量。我们的CMI165可对温度实施补偿,在不考虑铜温度的前提下获得准确的检验结果。
这是对如下流程实施质保和检验的理想工具:

 PCB制造和装配。
 面铜厚度。

我们的CMI165仪表具备通用性和便携性。该产品配备有保护罩,其耐用性设计可应对严苛的工作环境。CMI165是如下方面的理想之选:

 测量冷热PCB上的铜。

 无需取样,减少浪费。

 测量铜箔或覆铜板上的铜厚度(以微米、密耳或盎司为单位)

 在进货检验期间按重量排序铜,之后再实施钻孔、剪断或电镀处理。


 在实施蚀刻或平坦化处理之后量化铜厚度。

 确认PCB面铜厚度。

 在不使用标准片的情况下测量蚀刻铜箔厚度达204微米。

PCB仪表比较图

我们提供多种用于PCB行业的PCB仪表,根据您的应用需求,为您带来成本效益的解决方案。


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