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德国尼克斯QuaNix8500涂层测厚仪
可选配件:
(主机必选,探头根据需要必选一种,探头电缆线为可选) Fe铁基普通探头/无线探头: 0-2000μm 0-5000μm NFe非铁基普通探头/无线探头: 0-2000μm NFe/Fe两用普通探头/无线探头:0-2000μm 0-5000μm Dangle(无线模块)、探头电缆线。计算机软件
QuaNix8500主机
基 体
Fe、NFe、NFe/NFe
探头形式
一体、有线分体、无线分体
显 示
LCD液 晶 显 示
测量范围
0-2000μm 0-5000μm
测量精度
0-2000μm: ≤±2% 2000-5000μm:≤±3%
最小基体
Fe:10mm×10mm NFe:6mm×6mm
基体
Fe:0.2mm NFe:0.05mm
最小曲率
凸半径:5mm 凹半径:30mm
储存温度
-10℃ --- 60℃
温度补偿范围
0℃ --- 60℃
电 源
2节1.5V干电池
尺 寸
124mm×67mm×33mm
重 量
120g(含电池及探头)
存 储
100个数据组,13000个测量值
数据传输
通过USB模块和电脑无线传输
统计功能
平均值,值,最小值,标准偏差
FT160台式XRF适用于电子元件镀层分析
FT230:具有高级功能的微焦斑 XRF 用于大批量镀层分析
日立CMI511手持式带温度补偿孔铜镀层测厚仪
日立手持式CMI165测厚仪适用于温度补偿的表面测量和铜线铜层厚度测量
日立CMI760系列常规金属测厚仪
日立FT110A台式XRF镀层测厚仪,锌层测厚仪
日立X-Strata920 镀层测厚仪,台式XRF镀层测厚仪
FR-InLine:在线薄膜厚度测量仪
Thetametrisis FR-pRo膜厚仪 膜厚测量仪
FR-Mic:全自动带显微镜多点测量膜厚仪
Filmetrics F32薄膜厚度测量仪
Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪
Filmetrics F50薄膜厚度测量仪
Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪
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