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日本kett涂层测厚仪 型号:LZ-200J系列 特点:用于无损、快速、精确的测量涂层、镀层厚度。采用磁性和涡流两种方式测量膜厚计。可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
FT160台式XRF适用于电子元件镀层分析
FT230:具有高级功能的微焦斑 XRF 用于大批量镀层分析
日立CMI511手持式带温度补偿孔铜镀层测厚仪
日立手持式CMI165测厚仪适用于温度补偿的表面测量和铜线铜层厚度测量
日立CMI760系列常规金属测厚仪
日立FT110A台式XRF镀层测厚仪,锌层测厚仪
日立X-Strata920 镀层测厚仪,台式XRF镀层测厚仪
FR-InLine:在线薄膜厚度测量仪
Thetametrisis FR-pRo膜厚仪 膜厚测量仪
FR-Mic:全自动带显微镜多点测量膜厚仪
Filmetrics F32薄膜厚度测量仪
Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪
Filmetrics F50薄膜厚度测量仪
Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪
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