X-RAY膜厚仪供应,韩国XRF-2000镀层测厚仪
韩国XRF-2000
X射线镀层测厚仪
测量电子电镀,五金电镀,化学镀层厚度
如镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀铬,镀锌镍合金等
韩国XRF-2000系列X-RAY膜厚仪
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.03－35um
可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀锌镍合金等)
(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金.铁是镀铜镀镍再镀银等)
合金镀层:如铁上镀锡铜,等
测量时间：10－30秒
精度控制：
*层：±5%以内,第二层：±8%以内, 第三层：±15%以内
XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号
不同型号各种功能一样
机箱容纳样品大小有以下不同要求
XRF-2000镀层测厚仪型号介绍
XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm
XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm
XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品
韩国先锋Micor Pionner XRF-2000镀层测厚仪,
提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能,而且价钱
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
可测量较大的产品。可测量各类金属层、合金层厚度等。
可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能
X-RAY膜厚仪供应,韩国XRF-2000镀层测厚仪
检测电子电镀,化学电镀层厚度,
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
X光测厚仪,X光镀层测厚仪,电镀层测厚仪，电镀测厚仪,镀层测厚仪,X光膜厚仪,镀层膜厚检测仪,电镀镀层测厚仪,XV镀层测厚仪,X-RAY镀层膜厚检测仪,镀层厚度测试仪,电镀测厚仪,镀层膜厚仪
