2018年10月29日 12:05深圳市辰仪科技有限公司点击量：260
浪涌抗扰度试验是电子设备常用的抗扰度试验项目中的一种，导致浪涌冲击抗扰度试验失败的主要原因是浪涌脉冲本身所含有的高电压(数千伏)和高能量(每脉冲浪涌波含有的能量达到几百焦耳。作为比较，每脉冲的脉冲群信号含有的能量仅仅是毫焦耳级的;而每脉冲静现放电波形含有的能量是皮焦耳级的)。过高的差模电压幅度会导致输入器件击穿损坏，而过高的共模电压会导致线路与地之间的绝缘层击穿。举例来说，电子设备由于器件击穿后的阻抗很低，浪涌所产生的大电流可以使器件产生过热而损坏。对于电源电路来说，浪涌到来时，整流和滤波电容提供了很低的阻抗，浪涌所产生的大的电流要流过整流二极管，当整流二极管不能承受这个电流时，就会发生过热而烧毁。另外，浪涌对滤波电容的充电，也会使电容上的电压超出电容耐压允许的程度，而导致电容击穿和损坏。由于浪涌脉冲的上升时间较长(微秒级)，脉宽较宽(几十微秒至 1 毫秒)，因此浪涌脉冲不含很高的频率成分，对电路形成的干扰以传导为主。
对于浪涌脉冲的这种高能量和所含谐波频率相对偏低的特点，采用一般的滤波(如电源线滤波器和信号线滤波器)和吸收(如铁氧体磁环)，基本上是无效的(用示波器观察，进入和离开这些器件的浪涌脉冲几乎没有发生变化)，而有用的就是浪涌保护器件(或称浪涌吸收器件、浪涌抑制器件和瞬变电压吸收器件等)，用在设备的电源和信号端口，阻止浪涌脉冲进入设备的内部。
常用的浪涌保护器件有气体放电管、压敏电阻、硅瞬变吸收二极管和半导体放电管等几种。
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