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上海德竹芯源科技有限公司
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CT8203 激光器芯片低温测试系统是针对半导体 LD 激光器在低温、常温、高温三个不同温度下进行的光电特性LIV扫描测试、光谱扫描测试参数测试。系统为双温区结构设计，一个产品可连续测试两个温度。系统主要由晶圆供给区、芯片搬运区、芯片位置校正区、芯片OCR提取区、芯片测试区、芯片收纳区共六部分组成。系统集成了①从晶圆环上料→②运输→③DUT ID扫描→④高/低温测试→⑤下料→⑥分拣归类。 CT8203支持激光器前向/后向光电测试。
● CT8203 测试效率非常高，可在 6.8s （1次LIV+3次光谱）内完成上述 6 个流程
● 适合大批量量产应用
● 系统采用偏心凸轮结构、高精度直线电机、高重复性步进电机计、高精密夹具、高稳定性加电探针及高导热载台，使其具有出色的精度和稳定性
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