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SiC紫外探测器

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称光傲科技
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地上海市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2026/7/4 12:12:07
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光傲科技自成立以来,始终专注于为客户提供专业、量身打造的光电计量测试方案,包含实验室测试、现场测试、产线测试三大领域:辐射度测量/Radiation Measurement光电材料与器件测试/Material Test精密光学测量/Optical Metrology服务的行业:国家及地方所、质检所汽车、飞机座舱仪表及照明航天、国防辐射计量测试光电显示行业LED及照明行业大学及研究院所核心优势:覆盖全产业的产品线:从研发设计到测量、到生产;从芯片到灯具、到现场测试完整的产品线,服务客户的每一步。的供应商:我们的供应商多是各自领域享有盛名的仪器制造商,是许多行业事实上的标准。全面、系统的专业知识:我们深刻理解探测器、光学材料元件、光路系统,具备同类公司所没有的专业能力和行业经验积累。不断提高的系统集成和技术支持能力追溯NIST的校正实验室:采用进口标准光源,目前可进行成像亮度色度计、光谱辐射亮度计、照度计的鉴定和校正工作基于在线测试的系统集成能力:基于代理产品的高精度测试仪器,结合公司的软硬件集成设计能力,已经为许多业内工厂提供成套产线测试系统。产品优化设计咨询:基于的仿真设计软件,以及光源、材料测试平台,解决客户灯具、背光、显示器产品开发过程中的各种疑难杂症。测试服务:基于公司自有进口测试设备,整合客户资源和*条件,提供复杂产品的测试服务。
SiC紫外探测器 产品信息
SiC紫外探测器

德国的IFW公司在紫外探测器领域有着20多年的研发、生产经验,其SiC 紫外探测器产品种类丰富,多达100多种,相对于Si,金刚石薄膜,TiO2,钻石等紫外探测器,拥有巨大的优势!是您紫外探测应用的产品!
主要特点
  • 光谱响应范围于200-400nm 或 (210-380nm),不需要额外的滤光片来屏蔽可见光或红外辐射
  • 试验证明,即使在1000W/m2强度的254nm光辐照下,仍然保持长时间的稳定性
  • 的温度稳定性(温漂系数: Tk < -0.06%/K),在150摄氏度的高温下,仍然保持长时间稳定性
  • 非常低的暗电流(fA Rang)
  • 可集成航天质量标准的紫外窄带滤光片: UVA UVB UVBC UVBC2 UVC
  • 提供集成放大器电路
  • 多达100多种不同型号,充分满足不同的紫外探测需求
光谱响应曲线(含滤光片)
产品系列
  • 标准产品 JECXX 系列
  • 集成放大器系列 JIC 系列
  • 高温封装系列 JECXXHT 系列 (标准产品工作温度可达+ 70 °C, HT可达150°C)
  • 位移探测器系列 JQC4 四象限探测器
  • 红斑效应探测 JEC XX E 系列
产品选购指南

Part Number

Description
single SiC-photodiodes 标准产品
JEC 0,1S(S) 0,3mm x 0,3mm SiC-photodiode
JEC 0,3S(S) 0,5mm x 0,5mm SiC-photodiode
JEC 1S(S) 1mm x 1mm SiC-photodiode
JEC 4 2mm x 2mm SiC-photodiode
JEC 0,1IS SiC-photodiodes with different active areas, detector chip isolated to package
JEC 0,1IS_Z.0.e
JEC 0,3IS
JEC 0,3IS_Z.0.e
JEC 1IS
JEC 1IS_Z.0.e
JEC 0,1S(S)HT SiC-photodiodes with different active areas for long term operating temperatures up to +150°C
JEC 0,3S(S)HT
JEC 1S(S)HT
JEC 4HT
JEC 0,1* SiC-photodiodes with integrated radiation hard filters for UV-C, UV-BC, UV-B und UV-A measurement
JEC 0,3*
JEC1*
JEC 0,3E.0.e ERYCS® erythemal sensor (measurement of natural sun)
JEC 1I-DE
JEC 1+0,1I-DE ERYCS® erythemal sensor (measurement of artificial sun and exposure lamps)
SiC-quadrant photodiodes四象限探测器
JQC4 SiC-quadrantphotodiode
SiC-photodiodes with integrated amplifier
JIC 117…JIC119 SiC-photodiodes with different size of active area and integrated amplifier (single supply voltage, various gains and externally adjustable)
JIC 317_318_319.0.e
JIC 137…JIC139
JIC 337_338_339.0.e
JIC 157…JIC 159
JIC 357_358_359.0.e
JIC 117A…JIC 119A SiC-photodiodes with integrated amplifier and radiation hard filter for UV-A-measurement
JIC 317A_318A_319A.0.e
JIC 137A…JIC 139A
JIC 337A_338A_339A.0.e
JIC 157A…JIC.159A
JIC 357A_358A_359A.0.e
JIC 127B…JIC 129B SiC-photodiodes with integrated amplifier and radiation hard filter for UV-B-measurement
JIC 327B_328B_329B.0.e
JIC 147B…JIC 149B
JIC 347B_348B_349B.0.e
JIC 167B…JIC.169B
JIC 367B_368B_369B.0.e
JIC 127C…JIC.129C SiC-photodiodes with integrated amplifier and radiation hard filter for UV-C-measurement
JIC 327C_328C_329C.0.e
JIC 147C…JIC 149C
JIC 347C_348C_349C.0.e
JIC 167C…JIC.169C
JIC 367C_368C_369C.0.e
JIC 149L SiC-photodiode with integrated amplifier replacement for SFH530 made by OSRAM

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