| ★主要技术规格和性能: | ||
| 产品型号 | HK-IOL-16H | |
| 产品名称 | 间歇寿命试验系统 | |
| 符合标准 | 试验线路及试验方法满足MIL-STD-750、GJB128及AEC-Q101相关标准要求 适用于各种封装形式的二极管、三极管、MOSFET、IGBT等器件的间歇寿命试验和稳态寿命试验。 | |
| 试验通道 | 16个 （一板一区） | |
| 试验容量 | 40×16=640位 | |
| 基本功能 | ①每个通道提供一组独立程控电源。 | |
| ②对于三极管、MOSFET器件试验，可提供部分工位Tj检测或全部工位Tj检测。二极管试验提供全部工位Tj检测。 | ||
| ③对于二极管，每工位试验电流范围为0～15A，并联后可提供60A试验电流。MOSFET及IGBT器件试验每工位18W试验功率。只需减少试验工位，就可增加器件的试验功率。 | ||
| ④可使用外部电源。如配置TDK、安捷伦等品牌电源。 | ||
| 计算机 | 工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。WINDOWS操作界面，友好的人机对话窗口， *的图形编辑能力以及*的器件库供用户选择，软件操作简单易学。更有系统查询诊断功能， 试验状况一目了然，方便用户随时查验。 | |
| 老化板 | 老化板采用子母板的方式，只需更换子板即可试验不同封装的器件。 | |
| 电网要求 | 单相AC220V±10%，47Hz~63Hz，6KW | |
| 外形尺寸 | W1620mmхH1820mmхD1320mm | |
| 重量 | 约600kg | |
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