HAST高加速寿命偏压老化试验箱
绝缘电阻劣化（离子迁移）测试系统搭配HAST高加速老化试验箱，可高精度连续监测，快捷评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。
HAST高加速寿命偏压老化试验箱
随着电子设备在智能化的方向及小型化、轻量化发展，印制线路板的线路也越来越细，间距越来越小，绝缘层越来越薄，钻孔尺寸也向更小更密的方向发展，并且由于信息传输速度的提升，使得印制板所承受的工作温度也在不断地上升。因此，在印制线路板的质量与可靠性测试中，CAF的测试也就变得越来越重要。
随着电子设备在智能化的方向及小型化、轻量化发展，印制线路板的线路也越来越细，间距越来越小，绝缘层越来越薄，钻孔尺寸也向更小更密的方向发展，并且由于信息传输速度的提升，使得印制板所承受的工作温度也在不断地上升。因此，在印制线路板的质量与可靠性测试中，CAF的测试也就变得越来越重要。
绝缘电阻劣化测试系统特点：
1.高精准测量
2.专业的工程技术能力支持
3.可灵活地同温湿度环境试验箱，HAST箱，PCT等设备配合测试。
主要用途
助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、高密度封装的材料
BGA、CSP等精细节距IC封装件
有机半导体相关
电容、连接器等其他电子元器件及材料
各种绝缘材料的吸湿性特性评估
