| GWST-1000型高温四探针综合测试系统（包含薄膜，块体功能） GWST-1000型高温四探针综合测试系统（包含薄膜，块体功能） 关键词：四探针，电阻，方阻 GWST-1000型高温四探针综合测试系统（包含薄膜，块体功能）是为了更方便的研究在高温条件下的半导体的导电性能，该系统可以实现在高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率和外延层、扩散层和离子层的方块电阻及测量其他方块电阻。 二、符合： 1、符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、 2、符合GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》 3、符合美国 A.S.T.M 标准 二、产品应用： 1、测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻； 2、可测柔性材料导电薄膜电阻率/方阻 3、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）电阻率/方阻 4、纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻 5、电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量 6、可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻 三、主要技术参数 温度范围：RT-1000℃ 数据传输：USB 工作湿度：+40 ℃ 时，相对湿度高达 95%（无冷凝）
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GWST-1000型高温四探针综 产品信息
