NSG 3060 传导EMC发生器
模块化，可扩展系统
浪涌电压高达6.6 kV
7”彩色触摸屏，便于操作
IEC和ANSI两种耦合方式
DTA(直接测试程序调用)可快速提供标准化测试设置
测试过程中可以更改测试参数
大量可选测试附件
高精度开关切换技术，满足ANSI耦合要求
几年的销售业绩，证明了Teseq®公司将Modula系列产品推向市场的成功，而新一代的NSG 3060传导抗扰度综合测试仪更将特测公司的产品推向了一个新的高度。这种采用模块化结构的创新设计既可以满足基本测试的需求，也能通过扩展功能来满足要求更高级的检测实验室的测试需要。
满足CE 标识和ANSI C62.41标准测试要求而设计。一台标准的NSG 3060包括对综合波、振铃波和EFT电快速瞬变脉冲群以及PQT电压跌落的测试。其多样性的扩展能力使得它能够灵活配置来适应更广阔的应用场合。
利用NSG 3060的“主－从”结构概念，新的脉冲发生器模块可简便快速地增加到原来的系统中。这种技术允许利用存储在从控制器上的校准数据和校正因子对单个脉冲模块分别进行校准。
新模块的安装非常简便，无需返回整个系统对其进行校准。采用技术的组件，NSG 3060在开关切换技术和相位精度方面建立了新的标准，并且超越了现行标准的要求。采用功能强大的处理器使得NSG 3060系统能够满足ANSI C62.41标准中所规定的的耦合要求。ANSI C62.41标准要求脉冲幅值要随着交流电源脉冲相位、电压的幅值的变化而变化。
超高对比度的7”彩色触摸屏是NSG 3060系列里边最引人注目的特点。依据要求，可利用集成在NSG 3060上的键盘或带有按键的滚轮进行灵敏度调节。
友好的图形显示界面使得测试速度加快。每个参数值清晰可见，所有的设置可以通过大尺寸的触摸式输入按钮进行快速选择和修改。不需要用笔，就可以快速简单的编写程序。可轻易创建一个多步测试程序并且可方便地更改该多步测试程序的测试步骤或参数。
选择“专家模式”允许用户在测试过程中，利用滚轮手动地更改参数，这是一种激活关键阈值的快速有效的方法。
利用集成在NSG 3060的TA(测试程序)功能，只要少数几个“点击”便可触发标准化测试，从而可快速可靠地获得测试结果。
利用简单易用的SD记忆卡读卡器，固件可快速下载，用户指定的测试将会完整的保存下来。一般情况下，存储空间是足够大的。在存储空间不够用的情况下，可用商用SD记忆卡替换，现存测试文件可很方便地拷贝到容量更大的SD记忆卡。
模块化，可扩展系统
浪涌电压高达6.6 kV
7”彩色触摸屏，便于操作
IEC和ANSI两种耦合方式
DTA(直接测试程序调用)可快速提供标准化测试设置
测试过程中可以更改测试参数
大量可选测试附件
高精度开关切换技术，满足ANSI耦合要求
几年的销售业绩，证明了Teseq®公司将Modula系列产品推向市场的成功，而新一代的NSG 3060传导抗扰度综合测试仪更将特测公司的产品推向了一个新的高度。这种采用模块化结构的创新设计既可以满足基本测试的需求，也能通过扩展功能来满足要求更高级的检测实验室的测试需要。
满足CE 标识和ANSI C62.41标准测试要求而设计。一台标准的NSG 3060包括对综合波、振铃波和EFT电快速瞬变脉冲群以及PQT电压跌落的测试。其多样性的扩展能力使得它能够灵活配置来适应更广阔的应用场合。
利用NSG 3060的“主－从”结构概念，新的脉冲发生器模块可简便快速地增加到原来的系统中。这种技术允许利用存储在从控制器上的校准数据和校正因子对单个脉冲模块分别进行校准。
新模块的安装非常简便，无需返回整个系统对其进行校准。采用技术的组件，NSG 3060在开关切换技术和相位精度方面建立了新的标准，并且超越了现行标准的要求。采用功能强大的处理器使得NSG 3060系统能够满足ANSI C62.41标准中所规定的的耦合要求。ANSI C62.41标准要求脉冲幅值要随着交流电源脉冲相位、电压的幅值的变化而变化。
超高对比度的7”彩色触摸屏是NSG 3060系列里边最引人注目的特点。依据要求，可利用集成在NSG 3060上的键盘或带有按键的滚轮进行灵敏度调节。
友好的图形显示界面使得测试速度加快。每个参数值清晰可见，所有的设置可以通过大尺寸的触摸式输入按钮进行快速选择和修改。不需要用笔，就可以快速简单的编写程序。可轻易创建一个多步测试程序并且可方便地更改该多步测试程序的测试步骤或参数。
选择“专家模式”允许用户在测试过程中，利用滚轮手动地更改参数，这是一种激活关键阈值的快速有效的方法。
利用集成在NSG 3060的TA(测试程序)功能，只要少数几个“点击”便可触发标准化测试，从而可快速可靠地获得测试结果。
利用简单易用的SD记忆卡读卡器，固件可快速下载，用户指定的测试将会完整的保存下来。一般情况下，存储空间是足够大的。在存储空间不够用的情况下，可用商用SD记忆卡替换，现存测试文件可很方便地拷贝到容量更大的SD记忆卡。
