绝缘材料介电常数测试仪

机台型号：ZJD-A型 绝缘材料介电常数测试仪

一、简介：

ZJD-A型 绝缘材料介电常数测试仪 由S916测试装置（夹具）、ZJD-B/C/A型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入ZJD-B或ZJD-C的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用ZJD-B或ZJD-C数字Q表具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。

ZJD-A介电常数/介质损耗测试系统系统组成：

二、主机：ZJD-B/C/A 高频Q表

S916（数显）或S914介电常数ε_r和介质损耗因数tanδ测试装置：

固体：材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm （二选一）  

液体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）

三、LKI-1电感组

注意: 可定制100MHz电感.  

介电常数及介质损耗测试仪
1、范围 
本标准规定了在15Hz〜300MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法，并由此计算某些数值，如损耗指数。本标准中所叙述的某些方法，也能用于其他频率下测量。 
本标准适用于测量液体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关，例如频率、温度、湿度，在特殊情况下也与电场强度有关。 
有时在超过1000V的电压下试验，则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应，对此不予论述。 
　
2、规范性引用文件 
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本适用于本标准。 
IEC60247:1978　液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量 
　
3、术语和定义 
下列术语和定义适用于本标准。 
3.1 
相对电容率relative permittivity 
ε r 
电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容Cx与同样电极构形的真空电容Co之比； 
……………………………（1） 
式中； 
εr——相对电容率; 
Cx——充有绝缘材料时电容器的电极电容； 
Co——真空中电容器的电极电容。 
在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率ε r等于1.00053，因此，用这种电极构形在空气中的电容Cx来代替Co测量相对电容率εr时，也有足够的精确度。 
在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数εr的乘积。 
在SI制中，电容率用法/米（F/m）表示。而且，在SI单位中，电气常数εr，为： 
……………………………（2） 
在本标准中，用皮法和厘米来计算电容，真空电气常数为:ε0=0.088 54 pF/cm 
3.2 
介质损耗角dielectric loss angle 
δ 
由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角。 
3.3 
介质损耗因数1） dielectric dissipation factor 
tanδ 
损耗角δ的正切。 
3.4 
[介质]损耗指数 [dielectric] loss index 
εr 
该材料的损耗因数tanδ与相对电容率εr的乘积。 
3.5 
复相对电容率 complex relative permittivity 
εr 
由相对电容率和损耗指数结合而得到的： 

式中： 
εr——复相对电容率； 
εr——损耗指数； 
εr、εr——相对电容率； 
tanδ——介质损耗因数。 
注：有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示，或用电容CP和电阻RP（或电导CP）并联电路表示。 
　　　　　　　　 并联等值电路　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 串联等值电路 
　
式中： 
Cs——串联电容； 
Rs——串联电阻； 
　
1）有些用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”，因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。 

CP——并联电容； 
RP——并联电阻。 
虽然以并联电路表示一个具有介质损耗的绝缘材料通常是合适的，但在单一频率下，有时也需要以电容Cs和电阻Rs的串联电路来表示。