绝缘材料高频介质损耗测试装置|介电常数测试仪 返回列表页

绝缘材料高频介质损耗测试装置工作频率范围是1kHz～70MHz,它是根据串联谐振原理，测试固态绝缘材料的高频介质损耗角（tanδ）和介电常数（ε），高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等.
本介质损耗装置中测试夹具是由测微平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用介电常数及介质损耗测试仪作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化和厚度的刻度读数变化通过公式计算得到。同样，由平板电容器的刻度读数变化，通过公式计算得到介电常数。

   介电常数测试仪 介质损耗测试仪   介电常数及介质损耗测试仪  介电常数及介质损耗测试装置

                         
◎ 本公司创新的自动Q值读取技术，使测Q分辨率至0.1Q 。
◎ DPLL合成发生1kHz～70MHz,测试信号。
◎ 低至20nH残余电感，保证高频时直读Q值的误差较小。
◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ 独立1kHz～70MHz信号源输出口，所以本机又是一台70MHz的合成信号源，频率准确度±50ppm，稳定度±10ppm。

◎ 介质损耗装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求

  SB916介质损耗测试装置与2851D、2853D 介电常数及介质损耗测试仪及电感器配用，能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值和介电常数的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

2.1 平板电容器：

2.1.1 极片尺寸：

      SB916-38：Φ38mm， SB916-50：Φ50mm

2.1.2 极片间距可调范围和分辨率：

      ≥10mm， ±0.005mm

2.2 夹具插头间距：

    25mm±1mm

2.3 夹具损耗角正切值

    ≤2.5×10-4

 工作原理

   本测试装置是由测微平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化和厚度的刻度读数变化，将测试数据输入电脑，通过公式计算得到。同样，由平板电容器的刻度读数变化，通过公式计算得到介电常数。

    SB916D 介质损耗测试装置是由测微平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化和厚度的刻度读数变化,将测试数据输入电脑，通过公式计算得到。同样，由平板电容器的刻度读数变化，通过公式计算得到介电常数。

产品工作特征

1.1 平板电容器：
1.1.1 极片尺寸：
  SB916D-38：Φ38mm.
  SB916D-50：Φ50mm.
1.1.2 极片间距可调范围和分辨率：
  ≥8mm， ±0.002mm
1.2 夹具插头间距：
  25mm±1mm
1.3夹具损耗角正切值
  ≤2.5×10-4