详细摘要: 图片简介SE500椭偏仪是一种利用光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器,主要用来测量薄膜材料的厚度、NK参数等性质
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详细摘要: 图片简介SE500椭偏仪是一种利用光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器,主要用来测量薄膜材料的厚度、NK参数等性质
产品型号:所在地:北京市更新时间:2024-05-26 在线留言详细摘要: 图片简介SE300椭偏仪是一种利用光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器,主要用来测量薄膜材料的厚度、NK参数等性质
产品型号:所在地:北京市更新时间:2024-05-26 在线留言详细摘要: 图片简介椭偏仪——SE200BA-M300椭偏仪是一种利用光的偏振态变化来进行薄膜性质表征的仪器,主要用来测量薄膜材料的厚度、NK参数等性质
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