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北京博电新力电气股份有限公司
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博电科技PST6747A半导体参数分析仪是一款测量与分析功率半导体器件I-V特性的专用仪器，能 在3kV （可扩展为10kV）和2200A的条件下实现精确测量、分析功率半导体器件的静态参数。 PST6747AM有快脉冲能力，以及fA电流检测能力，并具有优异的宽电压和电流测量能力。这些功能能够对的器件（例如IGBT）和新型材料（例如GaN和SiC）进行测量。PST6747A由多个独立的高精度源组成，包括P6701B 3kV高压高精度源、P6703B高精度源和 P6705A 2200AX电流源等组成。每个功率源模块上配备两个独立的模数（AD）转换器支持2µs采样率，每个模块上的驱动能够独立精确控制，对有可能影响器件特性的关键参数进行精确监测。对于测量功率器件和电源电路，该仪器更便于使用，有更好的数据分析能力，同时利用 博电科技自主研发的软件也简化了对测量数据的管理，能够依据用户的需求进行定制，让用户有 更好的使用体验。
PST6747A半导体测试系统经博电科技研发团队持续技术攻关，于2020年研制成功并供应客户，实现我国在功率半导体分析仪器装备方向有力替代进口同类产品。PST6747A是台具有快脉冲、精度分辨fA电流检测、宽电压/电流测量能力的半导体测试系统。
PST6747A半导体测试系统解决了基于国产检测设备实现主流功率器件（IGBT、MOSFET、GTO）和新型材料（GaN、SiC）等功率半导体器件的静态全参数测试难题。产品已应用于应用单位、科研院所、运维、生产等各大半导体研究院所和高校等使用试用并获得用户好评。
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