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QNix4200膜厚仪

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更新时间：2024-12-19 11:24:55浏览次数：102次

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产品简介

QNix4200膜厚仪一体化/分体化设计，只需调零，无需校准，使用极其简单。其中QNix4200为磁性测厚仪，可以用来测量钢、铁等磁性基体上的涂层、镀层；

详细介绍

窗体顶端

QNix4200窗体顶端

窗体顶端

QNix4200膜厚仪一体化/分体化设计，只需调零，无需校准，使用极其简单。其中QNix4200为磁性测厚仪，可以用来测量钢、铁等磁性基体上的涂层、镀层；QNix4500为磁性和涡流两用测厚仪，不仅可以用来测量钢铁等磁性基体，还可以用来测量铝、铜、不锈钢等非磁性金属表面的涂层、氧化膜、磷化膜等覆层。这两个型号操作简单，携带方便，精度高，为广大用户所喜爱。
QNix4200膜厚仪优点：
1.简单快速测量
2.不需要校准
3.自动开关机
4.大量程FE:0-5000um NFE:0-3000um
5.双用探头，性价比高
6.霍尔传感器让测量更稳定
7.测量时声音同步
8.红宝石耐磨头，寿命长
9.背光LED显示，读数更加清晰
10.自动识别测量基体
11.分体式探头，满足不同的测量环境

QNix4200膜厚仪技术参数：

(模式)	磁性基体(Fe模式)/非磁性基体(NFe模式)
测量范围	0-3000um
显示精度	0.1um
精度	0-50um:≤±1um
	50-1000um:≤±1.5%读数
	1000-3000um≤±3%读数
zui小接触面	10×10mm/QNix4500
zui小曲率半径	凸面：3mm；凹面：25mm
zui小基体厚度	Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
温度补偿范围	0-60℃
显示	LCD液晶(带背光)
探头	红宝石固定式
电源	2×1.5V干电池
尺寸	100×60×27mm
重量	110g