详细摘要: Elcometer 236 直流孔隙探测仪基体的过早腐蚀通常是由涂层被破坏所造成。造成涂层破坏和缺陷的主要原因是针孔、空隙、杂质、细小污点和气泡。
产品型号:所在地:深圳市更新时间:2024-09-07 在线留言通信电缆 网络设备 无线通信 云计算|大数据 显示设备 存储设备 网络辅助设备 信号传输处理 多媒体设备 广播系统 智慧城市管理系统 其它智慧基建产品
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详细摘要: Elcometer 236 直流孔隙探测仪基体的过早腐蚀通常是由涂层被破坏所造成。造成涂层破坏和缺陷的主要原因是针孔、空隙、杂质、细小污点和气泡。
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