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深圳市真尚有科技有限公司


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真尚有_光学传感器 | 共焦传感器 | SCE(IR)-WF1-C1

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产品型号

品       牌

厂商性质其他

所  在  地深圳市

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更新时间:2023-06-03 10:43:55浏览次数:294次

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产品简介

SCE(IR)-WF1-C1 光学传感器配合红外线灯光进行工作,专门针对纤薄晶片的非接触式厚度测量进行了优化。 其它应用领域包括不透明材料的厚度测量,以及透明塑料薄膜的厚度测量。 借助干扰测试测量方法可以从一面进行高分辨率的稳定可靠的测量。 SCE系列传感器不同寻常的高动态性能和的信噪比可确保的测量结果。

详细介绍

- 主要特点-

SCE(IR)-WF1-C1 光学传感器特点:

  • 纤薄晶片;

  • 透明和不透明的塑料薄膜;

  • 从单面进行测量;

  • 在线和离线;

  • 较高的横向分辨率;

  • 简单集成;

  • 无损伤测量;

  • 坚固耐用;

  • 较大的测量间距公差范围;

-应用领域-

SCE(IR)-WF1-C1 光学传感器应用领域:

SCE系列传感器利用多种*的技术来实现快速距离和厚度测量。 传感器采用的光谱共焦(Chromatic confocal)和光干涉 (Interferometric)原理使其可以对几乎任何表面做测量,另外不同种类的白光和红外光源方便了传感器测量多种材料。在光伏设备、玻璃行业、半导体行业、医学、塑料盒坐标测量技术上得到了的广泛的应用和认可。


- 技术规格-

SCE(IR)-WF1-C1 光学传感器技术规格:

- 测量原理-

SCE(IR)-WF1-C1 光学传感器测量原理:

白光光源①发出白光,经过光纤分路器③进入光纤传导,再通过针孔④白光到达色散物镜⑤,在被测物一侧产生色散,由于波长不同,只有焦点在被测表面上的光才能被反射透过针孔④, 进入针孔④后方的光谱分析仪②。焦点在被测表面上的光波长在光谱分析仪中体现为峰值,由光谱仪的光谱分布可以判断被测物体的高度。

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