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武汉东隆科技有限公司
• 台式设备的数据,“紧凑"型价格
• 测量速度可高达30倍
• 优异的杂散光抑制,高信噪比
• 痕量级别检测极限
• 高温度稳定性和重复性
• 光纤耦合和自由空间方式
分光计 | OEM模型 | 光谱范围 |
WP UV-Vis | — | 250~850nm |
WP Vis | — | 400~800nm |
WP Vis-NIR | WP Vis-NIR | 400~1080nm |
WP NIR I | WP NIR I | 900~1700nm |
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