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μ-X360s便携式X射线残余应力仪

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产品型号μ-X360s

品       牌

厂商性质其他

所  在  地南通市

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更新时间:2023-03-26 12:37:05浏览次数:311次

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产品简介

X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之一,是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的,至今仍然是研究得广泛、深入、成熟的内应力测量方法,被广泛的应用于科学研究和工业生产的各领域

详细介绍

     X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之一,是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的,至今仍然是研究得广泛、深入、成熟的内应力测量方法,被广泛的应用于科学研究和工业生产的各领域。2012年日本Pulstec公司开发出基于全二维探测器技术的新一代X射线残余应力分析仪——μ-X360n,将利用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了一个全新的高度,设备推出不久便得到业界的广泛好评。由于其技术测试数据可重复性之高、使用之便携,设备一经推出便备受业界青睐! 近期,日本Pulstec公司成功克服技术难点,发布了新的产品型号:μ-X360s,将全二维面探测器技术的产品设计和功能完善再次升级!

测试原理概述:

   全二维面探测器技术

      --单角度一次入射后,利用二维探测器获得完整德拜环。通过比较没有应力时的德拜环和有应力状态下的变形德拜环的差别来计算应力下晶面间距的变化以及对应的应力
      --施加应力后,分析单次入射前后德拜环的变化,即可获得全部残余应力信息

产品特点:

    相较于传统的便携式X射线残余应力分析仪,新一代

    具有以下优点:

    更快速:二维探测器一次性采集获取完整德拜环,单角度一次入射即可完成测量。

    更精确:一次测量可获得500个衍射点进行残余应力数据拟合,结果更精确。

    更轻松:无需测角仪,单角度一次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。

    更方便:无需任何液体冷却装置,支持便携电池供电。

    更强大:具备区域应力测量功能,晶粒均匀性、材料织构、残余奥氏体分析等功能。

X射线残余应力仪检测样品图

应用领域:

  1.  机械加工领域:测量机床、焊接、铸造、锻压、裂纹等构件的残余应力。

  2.  冶金行业:测量热压、冷压、炼铁、炼钢、炼铸等工业生产构件的残余应力。 

  3. 各种零配件制造:测量电站汽轮机制造、发动机制造、油缸、压力容器、管道、陶瓷、装配、螺栓、弹簧、齿轮、轴承、轧辊、曲轴、活塞销、万向节、机轴、叶片、刀具等工业产品的残余应力。

  4. 表面改性处理:测量渗氮、渗碳、碳氮共渗、淬火、硬化处理、喷丸、振动冲击、挤压、滚压、金刚石碾压、切削、磨削、车(铣)、机械抛光、电抛光等工艺处理后构件中的残余应力。

  5. 民生基础建设领域:

    (1)海洋领域:测量船舶、海洋、石油、化工、起重、运输、港口等领域设备和设施的残余应力。

    (2)能源领域:测量核工业、电力(水利水电、热电核电)、水利工程、天然气工程等领域的设备和设施的残余应力。

    (3)基础建设工程领域:测量挖掘、桥梁、汽车、铁路、航空航天、交通、钢结构等工程领域所用材料、构件及其它相关设备设施的残余应力。

  6. 工领域:测量装备、重型装备等产品的残余应力。

应用软件:

  1. 采用全二维面探测器获取完整德拜环,X射线单角度一次入射即可完成应力测量

  2. 全自动软件测量残余应力并可显示出半峰宽数值

  3. 内在定位标记和CCD相机方便样品定位,操作极其简单快捷 

  4. 快捷进入预设各种材料测量条件,一键执行测量 

选配备件

  1. 残留奥氏体分析

    用于提供自动计算剩余奥氏体含量的软件分析功能

  2. XY扫描控制台

    用于在平面内X方向和Y方向精确调节探测器位置,并对样品表面进行残余应力区域测试,XY方向的行程为20cm

  3. 电解抛光装置

    用电化学腐蚀的方法对金属表面做剥层处理

  4. 振荡单元装置

    用于粗晶样品残余应力测试

  5.多种靶材可供选择

    用户可以自己更换X射线靶材以满足更广的测试材料需求,可换靶材包括:CrVCuCoMn 

基本参数:
准直器尺寸标配:直径1mm(其他尺寸可选)
X射线管参数30KV  1.5mA
X射线管所用靶材标配:铬靶(可选配其他) 
是否需要冷却水无需
是否需要测角仪 无需 
X射线入射角度 单一入射角即可获取全部数据 
所用探测器二维探测器
直接测量参数 残余应力 衍射峰的半峰高全宽 
电源参数 130W功率 110-240V 50-60HZ 
可否户外现场检测 设备便携、支持便携电池供电 


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