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CMI900 X射线荧光测厚仪

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产品型号CMI900/950系列

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更新时间：2022-10-05 12:45:22浏览次数：880次

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产品简介

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪AdvancedMaterialsAnalysisInstrumentCMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析

详细介绍

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪
Advanced Materials Analysis Instrument

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900/950主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪
Advanced Materials Analysis Instrument

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：

标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
程控样品台：XYZ轴自动控制。
超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。

CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：

全程控样品台：XYZ三轴程序控制样品台，可接纳的样品高度为150mm，XY轴程控移动范围为300mmx 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。
Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品高度为270mm。
全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品高度为356mm。
可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。

CMI900/950主要技术规格如下：

No.	主要规格	规格描述
1	X射线激发系统	垂直上照式X射线光学系统
		空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
		标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
		功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选 X射线管功率可编程控制
		装备有安全防射线光闸
2	滤光片程控交换系统	根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统
		二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
		位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口
3	准直器程控交换系统	最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制
		多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4	测量斑点尺寸	在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
		在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
5	X射线探测系统	封气正比计数器
		装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6	样品室	CMI900	CMI950
	－样品室结构	开槽式样品室	开闭式样品室
	－样品台尺寸	610mmx 610mm	300mmx 300mm
	－XY轴程控移动范围	标准：152.4 x 177.8mm 任选：50.8mmx 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm	300mmx 300mm
	－Z轴程控移动高度	43.18mm	XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm
	－XYZ三轴控制方式	多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
	－样品观察系统	高分辨、彩色、实时CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
		激光辅助光自动对焦功能
		可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
7	计算机系统配置	IBM计算机：2.8G奔腾IV处理器，256M内存，1.44M软驱，40G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，15寸液晶，56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。
8	分析应用软件	操作系统：Windows2000中文平台中文分析软件包：SmartLink FP软件包
	－测厚范围	可测定厚度范围：取决于您的具体应用。请告诉牛津仪器您的具体应用，我们将列表可测定的厚度范围
	－基本分析功能	无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
		样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
		可检测元素范围：Ti²² – U⁹²
		可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
		组成分析时，可同时测定15种元素
		多达4个样品的光谱同时显示和比较
		元素光谱定性分析
	－调整和校正功能	系统自动调整和校正功能：校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响，自动消除系统漂移
		谱峰计数时，峰漂移自动校正功能
		谱峰死时间自动校正功能
		谱峰脉冲堆积自动剔除功能
		标准样品和实测样品间，密度校正功能
		谱峰重叠剥离和峰形拟合计算
	－测量自动化功能 (要求XY程控机构)	鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”
		多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
		测量位置预览功能
		激光对焦和自动对焦功能
	－样品台程控功能 (要求XY程控机构)	设定测量点
		One or Two Datumn (reference) Points on each file
		测量位置预览(图表显示)
	－统计计算功能	平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
		数据分组、X-bar/R图表
		直方图
		数据库存储功能

	－系统安全监测功能	Z轴保护传感器
		样品室门开闭传感器
		操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师
	－任选软件	统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
		液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
		材料鉴别和分类检测
		材料和合金元素分析
		贵金属检测，如Au karat评价