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产品型号:COK-80L-3H所在地:东莞市更新时间:2024-09-03 在线留言通信电缆 网络设备 无线通信 云计算|大数据 显示设备 存储设备 网络辅助设备 信号传输处理 多媒体设备 广播系统 智慧城市管理系统 其它智慧基建产品
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产品型号:COK-80L-3H所在地:东莞市更新时间:2024-09-03 在线留言详细摘要: 微电脑上位机控制吊篮式冲击箱可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能,具备高低温...
产品型号:COK-150L-2P所在地:东莞市更新时间:2024-04-18 在线留言详细摘要: 电视机冷热冲击试验箱是电工电器、汽车、家电、涂料、化工、科研等领域*的测试设备,适用于光电、半导体产业、电子相关零件产业、汽车零件业及计算机相关产业等其他产品零...
产品型号:COK-3H-225L所在地:东莞市更新时间:2024-04-17 在线留言详细摘要: 研究所可程式高低温冲击老化试验箱对于电子,电池,五金,LED,仪器仪表等产品和原材料,都有着非常广泛的试验基础,能检测各种工业产品和原材料在高温,低温环境下的使...
产品型号:QZ-150L-3H所在地:东莞市更新时间:2024-04-10 在线留言详细摘要: 加速老化冷热快速冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料...
产品型号:C0K-80G-2H所在地:东莞市更新时间:2024-03-22 在线留言详细摘要: 深圳优质吊篮式冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在Z短...
产品型号:COK-80L-2H所在地:东莞市更新时间:2024-03-04 在线留言详细摘要: 静态高低温快速冲击试验箱用途该产品适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
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产品型号:COK-80L-3H所在地:东莞市更新时间:2024-03-01 在线留言详细摘要: 二手冷热冲击试验箱是目前环境试验设备市场使用的极为广泛的一款温度冲击试验设备。多用于测试LED,电子,电工,五金,电池,化工,电脑,数码,仪器仪表等产品。控制器...
产品型号:CLK-50L-3H所在地:东莞市更新时间:2024-02-26 在线留言详细摘要: 冷热冲击试验箱测试精准电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半...
产品型号:COK-50L-3H所在地:东莞市更新时间:2024-02-25 在线留言详细摘要: 新能源汽车减速器高低温冲击箱 液冷直冷机直冷(制冷剂直接冷却):利用制冷剂(R134a等)蒸发潜热的原理,在整车或电池系统中建立空调系统,将空调系统的蒸发器安装...
产品型号:COK-80L-2P所在地:东莞市更新时间:2024-02-23 在线留言详细摘要: 光电检测冷热冲击试验箱参数及性能用来测试复合材料及材料结构,在瞬间下经及高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,即以在Z短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化...
产品型号:COK-150L-3H所在地:东莞市更新时间:2024-02-21 在线留言详细摘要: 进口高低温冷热冲击试验箱加速老化实验箱本试验箱采用一套进口法国全封闭压缩机所组成的二元复叠式风冷制冷系统。复叠式冷系统包含一个高温制冷循环和一个低温制冷循环,其...
产品型号:COK-150L-3H所在地:东莞市更新时间:2024-02-20 在线留言详细摘要: 可靠性检测设备高低温吊篮冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、...
产品型号:COK-225L-2P所在地:东莞市更新时间:2024-02-17 在线留言详细摘要: 冷热冲击测试箱PCB高低温冲击试验机厂家是一家从事环境专业研发和产销的厂家,应为专业,所以,现已有大量的库存现货,欢迎新老客户的大量选购和批发。
产品型号:所在地:东莞市更新时间:2024-02-10 在线留言详细摘要: 三箱式高低温冲击试验箱报价蓄温式冷热冲击试验机为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备,大型冷热冲击试验箱...
产品型号:COK-50L-3H所在地:东莞市更新时间:2024-02-09 在线留言详细摘要: 科研可编程高低温冲击试验箱目的是为了在较短的时间内确认产品特性的变化,以及由于构成元器件的异种材料热膨胀系数不同而造成的故障问题。这些变化可以通过将元器件迅速交...
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