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CS系列分光辐射度计

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厂商性质其他

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更新时间:2022-09-18 22:24:22浏览次数:289次

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产品简介

CS系列分光辐射度计其核心一是应用HAMAMATSU的TE-cooled背照式制冷CCD探测器,二是对称式低杂散光光路设计。相对于一般的高精度快速光谱仪,具有高灵敏度、低杂散光、宽动态范围、高重复性稳定性等优点。适用于公司科研、国家地方光电实验室以及专业检测机构等。

详细介绍

CS系列分光辐射度计 特性

  • 极低的杂散光
结合光路设计技术实现分光光路与传感器的匹配,同时结合的FCT技术,并将NIST杂散光校正技术辩证结合,使杂散光水平比原有水平降低超过一个数量级。

  • 高灵敏度

采用HAMAMATSU科研级高灵敏度阵列探测器,背照式CCD传感器,具有内部TE致冷、BINNING等优良特性。

多种型号选择满足你不同的应用需求:

工业级采用CS-1000光谱仪,该系统价格经济,通过一系列可以互换的光测量附件即可轻松实现定制化,可溯源的光谱标准灯可以在380-780纳米的范围内方便的进行内部系统校准和验证工作。

实验级采用CS-4000光谱仪,具有强大的电子系统:带有自动清零功能的16位A/D转换器(增强的电子暗电流校正);采用EEPROM存储校正系数,方便操作;电子快门可使积分时间最短达到3.8毫秒--有效地避免探测器饱和.而且CS-4000的信噪比可以达到300:1,光学分辨率(FWHM)为0.03-8.4nm(依赖于选用的光栅和入射狭缝)。

科研级采用CS-6500光谱仪,采用二维像素阵列探测器。像素列的叠加使得信噪比大大提升(1000:1),外围电路将信号数字化添加使得探测器的信号处理速度与其他线性CCD相比更为快速。TE制冷型探测器(至-15 °C)具有低噪音、低暗信号的特点,低亮度级别测试、长积分时间从8毫秒到15分钟(类似于照相机的快门速度)得以实现。

CS系列分光辐射度计 规格

型号

CS-1000

CS-4000

CS-6500

探测器范围

350-800纳米

350-1050纳米

350-1100纳米

传感器

CMOS传感器

东芝TCD1304AP线性CCD阵列

热电制冷CCD(薄型背照式)

像素

1024像素

3648像素

1044×64像素

波长范围

350-800纳米

350-1050纳米

350-1100纳米

信噪比

150:1

300:1全光谱

1000:1全光谱

A/D分辨率

14位

16位

16位

积分时间

3.8毫秒-10秒

3.8毫秒-10秒

8毫秒-15分钟

杂散光

<0.05%

<0.05%

<0.05%

校正线性度

>99.8%

>99.8%

>99.8%

色温范围

1500-35000K

1500-35000k

1500-35000K

色度精度

±0.0003(标准A光源)

±0.0003(标准A光源)

±0.0003(标准A光源)

*亮度和色度的测量基于雷云光电条件下(使用标准LCD显示屏(6500K, 9300K))
*规格参数与外观有可能在没有预先通知的情况下予以变更,恕不另行通知。

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