斯派克ARCOS型全谱直读等离子体发射光谱仪 - 产品详情
斯派克ARCOS型全谱直读等离子体发射光谱仪简介
具采用的密封充气紫外光学系统和OPI水平观测等离子光学接口完成消除水平观测时尾焰的影响、全谱CCD技术和多视角等离子体定位等新技术，有高灵敏度、高精度以及波长范围宽（130nm-770nm) 等特性，在ICP-OES 领域开拓了全新的应用，可分析包括ppm级卤素在内的73个金属和非金属元素。
斯派克ARCOS型全谱直读等离子体发射光谱仪主要特点
1.一维色散＋32个CCD检测器设计，检测器无需超低温冷却，无需氩气吹扫保护
2.全波长覆盖，为130－770nm的波长范围，可以分析ppm级卤素
3.密闭充氩循环光路系统，检测190nm以下谱线，无需气体吹扫
4.3秒实现真正全谱数据采集，分析速度
5.所有气体流量采用质量流量计计算机控制，矩管位置3维步进马达计算机控制自动化程度高
斯派克ARCOS型全谱直读等离子体发射光谱仪技术参数： 光学系统
焦距：0.75米
光谱范围：130nm – 770nm
光栅：三光栅
- 3600线/毫米 (130nm – 175nm)
- 3600线/毫米 (175nm – 340nm)
- 1800线/毫米 (340nm – 770nm)
光谱级次：全波长一级光谱
32个线性CCD连续 排列在罗兰圆上
每个CCD的像素数：3648
分辨率：8.5pm （恒定不变）
光室密闭充氩，无需吹扫（驱气）和抽真空
光室恒温: 15℃ （ 0.1 ℃）
- 开机即可使用
- 测量130nm – 190nm波段方便快捷
信号检测与读出系统
32个线性阵列CCD
工作温度：15 ℃ （ 0.1 ℃），无须制冷，
无须吹扫保护性气流
超高速数据读取：双CPU，平行数据读出
*的动态范围：108
最短积分时间：0.1ms
可进行瞬时信号的测量：与LC、HPLC等联机成为真正可能
决无“溢出"现象
长寿命
等 离 子 体
自激式固态发生器和电源
频率：27.12MHz
功率：750 - 1700W
功率稳定性：<0.1%
风冷
全自动控制，功率连续可调
耦合效率高
等离子体观测方式
1、等离子体水平放置，轴向观测
可有效提高仪器的灵敏度10倍，尤其对于激发电位较低的元素，如：Zn、K、Na
的OPI技术
冷锥冷却方式：水冷，冷却效率高
计算机全自动控制冷锥与等离子体
的相对位置
氩气反吹，在保证远紫外波段的光
效率前提下，冷锥和光路（包括透
镜）无污染的可能
2、等离子体垂直放置，径向观测
等离子体垂直放置优点：
不会烧炬管
减少基体干扰
减少进样系统冲洗时间
实验成本降低
分析速度快
缺点：
对于激发电位较低的元素，如：Zn、K、Na
等灵敏度不够
针对不同用户的使用习惯和测试需求，可提供
SPECTRO ARCOS SOP（垂直炬管）
SPECTRO ARCOS EOP（水平炬管）
进样系统
四通道蠕动泵
泵速：0 ~70 RPM
连续可调
实时在线内标加入
在线稀释
耐强酸、碱等腐蚀性液体
随机附带大容量、自动报
警的废液回收器
软 件
多语言（包含中文）视窗化操作软件及手册
一键导航式操作流程，清晰、简便，易学、易用
全谱谱图自动存储，记录样品“指纹"，可进行“追忆"分析，无须保留样品和费时、
费力的再次测量
实时内标测量
定性、半定量全谱测试，可鉴别未知样品，进行“盲样"分析
可对谱图进行叠加、差减，精确消除溶剂、器皿等所引入的空白与污染误差
内置NIST标准谱库，可自动进行谱线干扰识别和校正
智能逻辑校正（ ICAL）系统，可持续监控仪器的工作状况并自动校准，
确保仪器在状态下运行
的智能背景校准（Smart Background Correction)，扣除真实背景，消除误
差，分析结果准确
扣除背景的方式灵活多样
同时、实时扣除背景
单点或双点
背景曲线拟合
的智能背景扣除（Smart Background Correction)
背景扣除真实可靠、简单实用
可在分析完成后更改背景扣除点或背景扣除方式，无须重新分析样品，减
轻操作人员的工作量
