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ISS 快速荧光寿命成像系统FLIM/FCS

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更新时间:2021-11-06 14:03:46浏览次数:531次

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产品简介

详细介绍

基于激光共焦扫描显微系统--荧光成像、荧光强度扫描成像、荧光寿命扫描成像、荧光光谱扫描成像

  新一代快速荧光寿命成像FastFLIM系统,提供单分子级的灵敏度,检测波长标准配置范围:350-1050nm;寿命范围100ps-100ms;用于化学、纳米、能源、生物等学科方向,单分子动态、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究,测试速度高达5fps(512×512),1×1 到 4096×4096成像,采用可视化Phasor plots荧光寿命直读半圆规,批量荧光寿命成像数据处理进入直读时代;振镜扫描适于所有时间尺度的寿命成像。活细胞工作站、变温测试可选用;

主要功能描述:

激光共焦荧光强度成像LCM;

荧光寿命成像FLIM,磷光寿命成像PLIM;

上转换荧光(寿命)成像,稀土发光(寿命)成像,延迟荧光(寿命)成像;

荧光波动成像FFS(FCS,FCCS, PCH,N&B, RICS, FLCS),FLIM-FRET成像;

单量子点发光(寿命)成像,单分子及单分子荧光共振转移成像,包括交替激发PIE成像;

稳态及瞬态偏振成像;

微区荧光光谱采集及光谱成像;

反聚束测试;

  Prof. Joseph R. Lakowicz 实验室选择的FLIM系统

  数字频域技术DFD-FLIM (FastFLIM)和时域技术TD-FLIM (TCSPC)成像技术;

  实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势,FRET效率分布;

  选择300-1600nm波长范围检测器,2-4通道检测器,用于成像,FLIM-FRET;

  可以升级无波长干扰AFM,实现同区域形貌和FLIM同步测试;

紫外-可见-红外激发波长,单波长或超连续激光器;266nm-1300nm激光器可选;PIE功能可选;白光激光器可选用;

  单光子或双光子的激光器;

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