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深圳光泰通信设备有限公司
1.2 测试参数
1. 自动计算 ITU IL、Min IL、Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、通道带宽和中心波长(1dB,3dB等)、Isolation、Slope、Crosstalk等参数。
2. 自动分析计算各种所需的测试参数结果和自动判定测试结果。
AWG/CWDM4芯片自动耦合系统
1.2 测试参数
1. 自动计算 ITU IL、Min IL、Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、通道带宽和中心波长(1dB,3dB等)、Isolation、Slope、Crosstalk等参数。
2. 自动分析计算各种所需的测试参数结果和自动判定测试结果。
3. 失效参数自动区分并标识。
4. 系统软件兼容各种可调光源(Agilent,santec,uc等)和各种带 trigger功能的功率计。
5. 测试界面显示每个通道的光谱 trace数据,并且可以做到自由缩放,供工程师实时分析产品数据,支持谱线另存为图片功能。
6. 支持产品灵活测功能,调出之前测试数据,单独重测任意某通道并进行更新覆盖。
7. 支持条码扫描,支持和MES系统对接。 支持规格自动判定等级进行分类操作。
8. 根据客户需求进行二次开发其他测试功能。
9. 测试原始数据和测试结果通过微软 SQL Server 数据库保存,海量存储。
10.数据导出和报表功能强大,能快速按条件批量导出数据供工程师进行工艺和来料分析。
11.支持SN号进行前端耦合工序和测试工序员工的计件统计报表功能。
Parameters | Axis | Range | Resolution |
Input (Left) | X | ≥10mm | ≤0.05um |
Y | ≥10mm | ≤0.05um | |
Z | ≥30mm | ≤0.1um | |
qX | ±8degree | ≤0.001degree | |
qY | ±8degree | ≤0.001degree | |
qZ | ±8degree | ≤0.001degree | |
Output (Right) | X | ≥10mm | ≤0.05um |
Y | ≥10mm | ≤0.05um | |
Z | ≥30mm | ≤0.1um | |
qX | ±8degree | ≤0.001degree | |
qY | ±8degree | ≤0.001degree | |
qZ | ±8degree | ≤0.001degree | |
Center | X | ≥150mm | ≤0.2um |
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商铺:https://www.afzhan.com/st188981/
主营产品:AWG/CWDM4/PLC芯片bar条自动耦合测试系统,AWG/CWDM4/WDM系列产品(透、反射)自动对光耦合系统,WDM/PLC/Athermal AWG在线监测系统
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