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x射线X-RAY膜厚测试仪美国

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更新时间：2017-01-09 18:23:45浏览次数：339次

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产品简介

x射线X-RAY膜厚测试仪美国用于测量金属电镀层的厚度，包括单镀层、双镀层、多镀层的测试，是目前各电镀厂家对产品品质检测的仪器之一。行业用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量.

详细介绍

x射线X-RAY膜厚测试仪美国用于测量金属电镀层的厚度，包括单镀层、双镀层、多镀层的测试，是目前各电镀厂家对产品品质检测的仪器之一。行业用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量.
新型号设计，快速分析（几秒）1-4层镀层厚度，多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型，开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等.符合ISO3487和ASTM B568检测方法.

x射线X-RAY膜厚测试仪美国软体说明：
* 电脑操作系统 XP系统
* 测量膜厚元素范围：元素周期表13—92号元素间的所有镀层，
使用FP法充许各元素镀层次序的自由组合测量层层次，zui多可以测量四层（加基材zui多五层）
* 仪器支持二种镀层厚度计算方法
（1）、无标准片的FP法（Fundamental Parameter）全新数学计算方法。
FP法名词解释：即在没有标准块的前提下，一样能精确测量，此方式是通过仪器直接读取镀层元能量信息，通过各无素能量信号的强弱或设定的各无素比例参数，以一种数学的方式直接计算镀的厚度。因为它不需要标准块，因此它不受标准块的限制，在没有各种合金镀层标准块的情况下样精确的测量各种二元、三元合金镀层）到目前为止，bowman是世界上*可实现此种新型测试技术的膜厚测量品牌，此技术已使用了17年。
（2）、支持传统的带标准块的检量线法，即通过镀层标准块建立测试程式档案测量相对应的镀层厚度。