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介电常数损耗测试仪

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具体成交价以合同协议为准

产品型号GCSTD-A

品       牌

厂商性质生产商

所  在  地北京市

更新时间:2018-05-15 16:00:48浏览次数:534次

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经营模式:生产厂家

商铺产品:36条

所在地区:北京北京市

联系人:孙小姐 (市场部经理)

产品简介

介质损耗是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试

详细介绍

 

GCSTD-A介质损耗测试仪
                         介电常数测试仪
满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的*方法
一、           概述
介质损耗是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
二、仪器的技术指标
  1.Q值测量
   a.Q值测量范围:2~1023。
   b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
 c.标称误差
项    目
GCSTD-A
频率范围
20kHz~10MHz;
固有误差
≤5%±满度值的2%;
工作误差
≤7%±满度值的2%;
频率范围
10MHz~60MHz;
固有误差
≤6%±满度值的2%;
工作误差
≤8%±满度值的2%。
   2.电感测量范围:14.5nH~8.14H
 
 
 
 
3.电容测量:1~ 460
项    目
GCSTD-A
直接测量范围
1~460pF
主电容调节范围
准确度
30~500pF
150pF以下±1.5pF;
150pF以上±1%
   注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则
   4.信号源频率覆盖范围
项     目
GCSTD-A
频率范围
10kHz~50MHz
频率分段
虚拟)
10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~60MHz     
频率指示误差
3×10-5±1个字
   5.Q合格指示预置功能
      预置范围:5~1000。
   6.Q表正常工作条件
   a. 环境温度:0℃~+40℃;                     
b.相对湿度:<80%;  
c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
   7.其他
   a.消耗功率:约25W;  
b.净重:约7kg;  
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
   8.产品配置:
a.测试主机一台;
b.电感9只;
c.夹具一套                                 
 
 
 

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