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北京冠测试验仪器有限公司
介质损耗是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试
项 目 | GCSTD-A |
频率范围 | 20kHz~10MHz; |
固有误差 | ≤5%±满度值的2%; |
工作误差 | ≤7%±满度值的2%; |
频率范围 | 10MHz~60MHz; |
固有误差 | ≤6%±满度值的2%; |
工作误差 | ≤8%±满度值的2%。 |
项 目 | GCSTD-A |
直接测量范围 | 1~460pF |
主电容调节范围 准确度 | 30~500pF 150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1% |
项 目 | GCSTD-A |
频率范围 | 10kHz~50MHz |
频率分段 (虚拟) | 10~99.9999kHz 100~999.999kHz 1~9.99999MHz 10~60MHz |
频率指示误差 | 3×10-5±1个字 |
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