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X射线荧光镀层厚度测量仪 FT160

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称苏州邦鑫电子技术有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地苏州市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2025/7/24 14:28:18
  • 访问次数127
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经营范围:色谱仪器,质谱仪器, 光谱仪;专注服务于各企业的化学实验室。服务优势:价格合理,路低于多数同行。产品优势:货源稳定。苏州邦盘电子技术有限公司位于苏州*开发区,比邻新区CBD区域,苏州邦鑫电子技术有限公司愿真诚携手各位合作伙伴、新老用户,共创事业的辉煌。
▶ PCB、半导体和电子行业专用款(1) PCB / PWB 表面处理:控制表面处理工艺的能力决定线路板的品级、可靠性和寿命。根据IPC 4556和IPC 4552A测量非电镀镍(EN,NiP)电镀厚度和成分结构。FT150大面积载台,适合各种软板硬板镀层分析。(2) 电子组件的电镀:零件必须在规格范围内被电镀,以达到预期的功能、机械及环境性能。日立系列膜厚设备,可以测量小的试片或连续带状样品,从而达到引线框架、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。(3) IC载板:半导体器件越来越小巧而复杂,需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析,及重复性好的数据。(4) 服务电子制造过程(EMS、ECS):采购和本地制造的组件及涉及产品的多个测试点,实现从进厂检查到生产线流程控制,再到*终质量控制。
X射线荧光镀层厚度测量仪 FT160 产品信息
  • FT160为微型电子器件的微焦斑分析,这款不会过时的仪器,专为微焦斑和薄镀层分析而设计,可应对日益小型化的电子行业及PCB板镀层的挑战。

    ■ FT160可提供:
    1. 毛细管聚焦光学组件和高灵敏度SDD检测器。
    2. 小于50μm的样品测量
    3. **的性能,以满足半导体芯片技术的挑战。
    4. 快速得到结果,使用简单,以提高生产力。
    5. 加快样品呈现速度的宽大样品舱门和样品台。

    6. 进行测试监控的宽大样品观察窗。

  • 项目 描述
    X射线照射方向 上方照射式
    测量元素 Al (13) ~ U(92)
    靶材 钨(W) target、钼(Mo) target
    测定环境 大气
    X射线发生部 45kV, 钼Mo 靶材
    设计 毛细管聚焦Poly-capillary
    管电流 *大1000μA 可变
    X射线检测部 Silicon Drift Detector (SDD)
    测定面积 φ0.030mm(FWHM 0.017mm)
    *大样品面积 FT160长400mm×宽300mm×高100mm
    FT160L 600mm x 600mm专用款
    电动XY样品台驱动移动范围 400×300mm
    CCD Camera 高质量相机可变焦16倍
    对焦模式 雷射自动对焦
    测量模式 Thin Film FP (5层, 10元素)/检量线法

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