ZeeScan 200A 三维数字显微镜
Zeescan（法国）200A 通过显微镜C-MOUNT 接口，扩展出强大的3D图像平台。ZeeScan兼容通常的工业、材料显微镜和立体显微镜。实现：3D表面分析和测量、物证检验、文字笔迹鉴定、痕迹检测、形貌和粗糙度测量、自动深度叠加、景深扩展、3D自动合成等功能。
一、应用
- 激光打标钻孔雕刻
- 故障分析
- 航空学
- 汽车工业
- 摩擦学
- 金属模具
- 质检维护
- 金属，油漆和涂料，陶瓷，聚合物
- 半导体材料
- 宝石学
- 博物馆、考古
- *、司法取证
- 高校、科研机构、鉴定中心
ZeeScan用于正置显微镜 ZeeScan用于立体显微镜 ZeeScan用于荧光显微镜
二、特点
高分辨率数字图像 ZeeScan光学组件能提供清晰明快的高分辨率数字图像
多种图像功能 自动聚焦 深度测量 Z轴图像序列 景深扩展 三维重建
ZeeScan能完成标准的正置或倒置显微镜的所有材料应用的关键任务
3D表面测量 面形 表面粗糙度 波浪 阶梯高度与复杂、笨重和昂贵的系统相比，ZeeScan是一种快速而廉价的表面形貌测量方法。
三、GetPhase软件
GetPhase 提供图像自动采集，2D/3D 图像分析，文档和报告等工具
图像获取和处理 | 2D/3D图像显示和分析 | 图像数据输出和报告 |
自动聚焦和曝光 感兴趣区域 导航
| 明场、暗场、相衬、DIC浏览 文字和图像叠加、图像融合 2D/3D测量 ISO粗糙度标准 梯度测量 | 项目存档 Excel格式3D数据 第三方软件的3D数据 报告编辑 HTML兼容报告 |
强大的图像工具
- 图像浏览和显示
- 高分辨率Z轴图像序列
- *的自动图像融合（景深扩展）
- 深度测量或3D重建。
- 2D测量和图像记录、报告
快速精确的3D表面测量
- ZeeScan非常快速和简单实现3D图像获取和测量。
- 非接触式光学表面分析具有高度可重复性：
- 微米或纳米级3D表面分析
- 具有从光滑到粗糙表面的测量能力
- ISO粗糙度和阶梯高度测量
- 高效的图像获取和处理
四、ZeeScan性能参数
相机兼容性 | C接口相机，靶面2/3″或更小 |
显微镜接口 | 1X C型视频接口 |
计算机接口 | USB2.0 |
电源 | 110/220AC |
物理尺寸和重量 | ZeeScan 主体：110(H)80(W)56(D)，470g 控制单元：40(H) 158(W) 150(D)，150g |
物镜 Mag/NA | Z轴范围 （um） | Z轴分辨率 （um） |
5x/0.10 | 640 | 0.32 |
10x/0.25 | 160 | 0.08 |
20x/0.40 | 40 | 0.02 |
50x/0.80 | 6.4 | 0.003 |
Z轴扫描范围和步长参数
Z轴范围和步长与物镜有关，左侧为标准物镜放大倍数的典型参数（1X视频接口时）
其他放大倍数时，按以下公式计算：
Z轴范围=16mm/(物镜倍数)2
Z轴分辨率=Z轴范围/2000
Z轴步长精度=1%，重复性=0.35%
粗糙度测量参数
共12项分析参数，包括经常使用的Ra (Sa), Rq (Sq), Rz(Sz)参数。符合ISO 4287、25178、DIN4768标准。
测量范围：Ra, Rq: 0.01-500μm，测量精度：≤±10%，重复性：≤6%
附字迹书写顺序检测（文检）案例：
