扫描电镜SEM
产品简介：
Thermo Scientific™ Apreo SEM 具有广泛地适用性，可以在较短时间内为材料研究人员提供的成像质量。
当 Apreo 的电子束打开，形貌和成分衬度可以同时被镜筒内探测系统呈现：无需繁琐操作，即可快速探索并获取样品各方面信息。在高放大倍率下，Apreo 的长工作距离（如 10mm 分析工作距离）也能表现出杰出的分辨性能。即使在绝缘、电子束敏感或磁性的材料上，Apreo的用户界面也可以高效地引导操作者获得表征该纳米结构的参数条件。 Apreo 能在短时间内解决错综复杂的研究问题，适用于需要多功能以及多用户操作的应用场合。
Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，其创新的末级透镜设计，丝毫不会降低对磁性样品的分辨能力。 静电式末级透镜（Apreo C 和 Apreo S）能够实现镜筒内多种信号的同时探测和高分辨率，而 Apreo S 则结合静电、浸没式磁场的复合透镜以进一步提高低电压下的分辨率，在 1 kV加速电压下的分辨率为 1.0 nm，不需要电子束减速。通过将浸没式磁透镜和静电透镜组合还可以实现的信号过滤功能。
Apreo 拥有透镜内背散射探测器 T1，其位置紧靠样品，确保在较短的时间内获得大量的采集信号。与其他背散射探测器不同，这种快速的探测器在导航时、倾斜时或工作距离很短时能够始终保持良好的材料衬度。在表征敏感样品时，探测器的性能尤为突出，即使电流低至几 pA，它也能提供清晰的背散射图像。Apreo S 复合末级透镜通过能量过滤实现高质量的材料衬度以及绝缘样品的无电荷成像，进一步提高了 T1 BSE 探测器的使用价值。Apreo 还提供了受欢迎的选配探头来补充其探测能力，例如定向背散射探测器(DBS)、STEM 3+ 和低真空气体分析探测器(GAD)。所有这些探测器都拥有的软件控制分割功能，以便根据需求选择有价值的样品信息。
每个 Apreo 都按标准配备各种用以处理绝缘样品的策略，包括：高真空技术，例如 SmartSCAN™、漂移补偿帧积分(DCFI) 和电荷过滤。对于具有挑战性的应用，Apreo 可提供电荷缓解策略。其中包括可选的低真空（高为 500 Pa）策略，通过经现场验证的穿镜式差分抽气机构和专用低真空探测器，不但可以缓解任何样品上的电荷，还能提供好的分辨率和较大的分析电流。
随着分析技术的使用越来越常规化，Apreo 仓室经过全新设计，以便更好地支持不同的配件和实验。仓室最多容纳三个 EDS/WDS 端口，可实现快速敏感的 X 射线测量、共面 EDS/EBSD/TKD 排列并与（冷冻）CL、拉曼、 EBIC 和其他技术兼容。所有这些功能都能通过简单的样品处理和熟悉的 xT UI 获得，节省了新用户和专家级用户的时间。可自定义的用户界面提供了诸多用户指导、自动化和远程操作选项。通过所有这些优势（包括复合末级透镜、高级探测和灵活样品处理）， Apreo 可提供出色的性能和多功能性，帮助您应对未来多年的研究难题。
