SPM-8000 科研级快速光谱分析系统
SPM-8000科研级快速光谱仪采样科学级CCD探测器和低杂散光光学分光平台以及的电子电路技术，大大提高了光谱响应能力和光学分辨率，为科学研究和高精度测量提供了强有力的手段。SPM-8000在紫外和近红外具有的响应度，广泛应用与照明行业的全光谱测试。
▲ 满足IESNA LM-79和GB/T 24824标准要求。
▲ 测试结果溯源至中国国家（NIM）。 ▲ 制冷背投式CCD，灵敏度高、动态范围宽。 ▲ 用户可自行进行系统校准和验证，无需将系统返厂校正。 ▲ 快速采集数据，实时显示。 ▲ 多图形显示参数，直观便于理解。 ▲技术参数
* 日本滨松高灵敏度背照式制冷型CCD探测器
* 波长范围: 200nm~1100nm可定制
* 杂散光：小于0.01%
* 光度线性度：０.２％
* 积分时间：5ms~15min
* 信号动态比：25000:1
▲典型应用
* 翊明积分球光色电综合测试系统
* 植物照明光通光子测量
* 紫外光源测试
