R&S®R-Line紧凑型测试暗室能在产品开发最初阶段消除无线终端产品的辐射问题,优化整体RF性能,从而避免了以后对产品原型的大量修改,节省了成本和时间,加快了产品推向市场的速度,提高了投资回报率
精确测量800 MHz至18 GHz无线终端产品的辐射发射
• 早期进行RF性能和辐射发射测量
• 自动化测量,交钥匙工程方案,效率更高
通过早期检验辐射发射来缩短产品推向市场的时间
非常适合实验室测量使用
针对辐射性能测试,提供全面的自动测试序列,实现资源的有效利用
R&S®R-Line紧凑型测试暗室能在产品开发最初阶段消除无线终端产品的辐射问题,优化整体RF性能,从而避免了以后对产品原型的大量修改,节省了成本和时间,加快了产品推向市场的速度,提高了投资回报率
精确测量800 MHz至18 GHz无线终端产品的辐射发射
• 自动化测量,交钥匙工程方案,效率更高
通过早期检验辐射发射来缩短产品推向市场的时间
*您想获取产品的资料:
个人信息: