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吉时利 Keithley 2601B-PULSE 10 µs 脉冲发生器/SMU 使用范围:半导体生产测试 、半导体器件设计 晶体管检定 、IDDQ 测试与待机电流测试、 多针装置测试

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称珠海睿峰贸易有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地珠海市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2026/6/24 15:29:57
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珠海睿峰贸易有限公司坐落于广东省环境优美的海滨城市—珠海,是一家工业自动化设备及生产线产品测试为一体仪器设备供应商,公司本着“以人为本、科技先导、顾客满意、持续改进”的工作方针,致力于产品电子测试与数据采集方案解决。 珠海睿峰拥有丰富的自动化产品的应用和实践经验及雄厚的技术力量,代理产品以数据采集、频谱测试、接口转换开发、电源,安规测试、量具、等相关软件测试软件为特长。近年来,公司在于美国NI、是德、泰克、吉时利、福禄克中国台湾研华、固纬、华仪、博技、日本横河、鼎阳、艾维泰科、同惠仪器、爱德克斯等多家公司建立合作关系。在行业测试、自动化测试和数据采集部门长期紧密合作过程中,建立良好的相互协作关系,在光通讯、数据采集及信号、安规测试、频谱分析方面的业务逐年增长,为广大用户提供良好的解决方案公司主要经营产品有:示波器、安规测试仪器、数据采集仪器、光器件测试、电子元件测试、交、直流可以编程电源、稳压电源、电子负载、通用电子测量仪器、仪器、实验仪器、串口通信及转换设备、量具、工作台辅助工具如:电烙铁、电风抢、预热台。覆盖行业:光通信、电子元器件、芯片、汽车电子、电池、光伏、大学科研研究、LED照明、SMT测试、维修行业。
通道数 1 台脉冲发生器/1 台 SMU 脉冲发生器 V/I 范围 1 μA - 10 A 1 μV - 10 V SMU V/I 范围 100 fA - 10 A 100 nV - 40 V 精度 脉冲发生器:0.05% SMU:0.015% 速度 1 M 个读数/秒
吉时利 Keithley 2601B-PULSE 10 µs 脉冲发生器/SMU 使用范围:半导体生产测试 、半导体器件设计 晶体管检定 、IDDQ 测试与待机电流测试、 多针装置测试 产品信息

无需手动脉冲调整即可实现高脉冲保真度

通过 2601B-PULSE 控制回路系统,高达 3μH 的负载变化无需手动调整,从而确保在任何电流水平( 10 安培)下输出 10 μs 至 500 μs 脉冲时,脉冲均不会出现过冲和振荡。脉冲上升时间 < 1.7="" μs,确保您可以正确检定被测器件或电路。="">

  • 输出 10 A @ 10 V,脉冲宽度为 10 μs
  • 脉冲上升时间 <1.7μs,可轻松检定>
  • 高保真脉冲输出,在任何电流水平下均无需调整
KI10A RiseTime
2601B Pulse Pulser Plus SMU

将快速脉冲发生器功能与 SMU 功能集成至一台仪器中

2601B-PULSE 在业界的吉时利 2601B SMU 仪器所提供的测量完整性、同步性、速度和准确性基础上新增脉冲发生器功能。

  • 通过 1 MS/s 的数字化功能,实现脉冲发生器 0.05% 的基本测量精度
  • SMU 100 nA 低电流范围与 100 fA 灵敏度
  • 后面板 BNC 连接实现电缆快速设置

嵌入式脚本和连接提供的生产吞吐量

测试脚本处理器 (TSP®) 技术可在 SMU 仪器内嵌入和执行完整测试程序,提供业界性能。TSP-Link® 技术支持扩展多达 32 个 TSP 链路节点,以创建高速、SMU-Per-Pin 并行测试(而不使用主机)。

  • 消除与 PC 之间耗时的总线通信
  • 高级数据处理和流量控制
  • 连接多达 32 个 TSP 链路节点
  • 随着测试要求变化轻松重新配置
2601B PUlse Embedded Scripting


应用
2601B-Pulse LIDAR

ToF/LIDAR 应用的激光二极管 (VCSEL) 生产测试

2601B-PULSE 是激光二极管垂直腔表面发射激光器 (VCSEL) LIV 生产测试的理想解决方案,采用高速高精度 10μs 脉冲发生器和 SMU,可用于 VCSEL、VCSEL 阵列和激光二极管模块的电流脉冲源和电压-电流监测。SMU 提供实惠的 LIV 仪器,系统同步和吞吐量高。

  • 可编程脉冲电流源可达 10 A 电流和 10 µs 脉冲宽度
  • 电压和电流测量分辨率为 100 nV 和 100 fA
  • 内置 TSP® 处理功能可减少 PC和仪器总线通信

故障分析和质量保证

半导体公司和半导体研究人员不断寻找方法,使测试设备不会成为其在半导体领域有所突破的阻碍。半导体故障分析 (FA) 工程师耗时无数,试图了解设备故障的原因及在将来如何预防。

  • 通过 SMU 和脉冲测试简化 FA 过程
  • 数字 I/O 触发外部 IR 摄像机
  • 内置定时器功能,分辨率为 1μs,精度为 ±100 ppm。
2601B-Pulse Pulsed DC I-V LED Characterization

简化的 LED 脉冲式/直流 I/V 检定

2601B-PULSE 独特的电流脉冲、直流电压和电流功能可实现高速 LED 直流和脉冲 IV 检定及生产测试,具有 0.015% 的基本测量精度。对 microLED、LED 或高亮度 LED (HBLED) 执行脉冲测试可地减少自发热,并减少对测量精度的负面影响,此外,无需担心损坏被测器件。

  • 可编程电流源可达 10 A 电流和 10 µs 脉冲宽度
  • 电压和电流测量分辨率为 100 nV 和 100 fA
  • 1 M 样点/秒数字化器,用于快速采集和测量数据
  • 内置 TSP 处理功能可减少 PC 仪器总线通信

晶圆半导体测试

Keithley 2601B-PULSE 和其他系列 2600B System SourceMeter® SMU 仪器将堆架式仪器的可扩展性和灵活性与基于主机系统的集成和高吞吐量相结合,使用 TSP 和 TSP 链路技术减少制造活动和测试成本。这些仪器通常用于激光二极管、LED、晶体管等晶圆半导体测试。

  • 内置 TSP 处理功能可减少 PC 仪器总线通信
  • TSP-链路多达 32 台仪器可在 500 ns 内与其他 Keithley TSP 仪器同步
2601B-Pulse On Wafer Semiconductor Testing
关键词:二极管
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