公司介绍：
NTT-AT有着多年的X射线、极紫外光学配件的研发与销售经验。在范围内，通过与众多来自同步辐射科学，阿秒科学，高强度物理学等领域的科学研究者开展紧密合作，积累了大量独特的设计与制造技术，其产品在业内享有很高的评价。NTT-AT提供的菲涅尔波带片有着高分辨率，高聚光效率等特点，适合被各种辐射光设施使用。另外，分辨率测试卡被当作业界的标准。不只是学术研究，在X射线的检查装置开发现场也被广泛使用。XUV镜片，XUV滤波片不仅对阿秒科学有着帮助，对下一代的光刻研究也有这重要作用。NTT-AT将在XUV,EUV, X线领域给予客户在研发上的帮助。
产品介绍：
高次谐波实验中，将XUV与NIR分离需要高效率，高损伤阈值以及宽带宽的二向色镜。我们可根据你的目标能量，提供标准款或定制型XUV二向色镜。与Brewster角分光镜和薄膜滤光片相比，基于多介质AR涂层的二向色镜（DM）具有更高的伤害阈值。此外，这款镜片还能用于XUV和NIR的光束组合。
标准款：
设计： DM-30/800-2010 自动光学检查：78° 极化： p NIR反射率： ~2%@800 nm+/- 50nm XUV反射率： ~45%@30nm 涂层： 介电质增强现实（AR） 衬底材料： 熔石英 尺寸： 直径2，最小厚度10mm |
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设计： DM-20/800-2010 自动光学检查：78° 极化： p NIR反射率： ~2%@800 nm+/- 50nm XUV反射率： ~60%@20nm 涂层： 介电质增强现实（AR） 衬底材料： 熔石英 尺寸： 直径2″，厚度10mm |
定制规格参数
| 自动光学检查 | 75°-87° |
|---|---|
| 极化 | s,p |
| 减反射波长 | 400 nm,800 nm,1000 nm,etc. |
| 高反射波长 | 3-5nm,13nm,30nm,60nm,etc. |
| 基板材料 | 熔石英 |
| 基板尺寸 | 直径为1″-4″ |
*反射率随入射角、目标波长和极化变化而变化。
