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LZ-200J电磁涡电流双制式膜厚计

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具体成交价以合同协议为准

公司名称上海益朗仪器有限公司
品牌
型号
所在地上海
厂商性质代理商
更新时间2026/5/1 11:39:53
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公司介绍主营产品

我公司是一精密测试仪器代理商，*代理韩国MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射线测厚仪及德国ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射线测厚仪。此两种仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。以下是我集团的其他主要产品：美国INNOVX伊诺斯XRF-6500 RoHS分析仪美国OMEGA 600SMD离子污染测试仪美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪美国WALCHEM（禾威）电镀药液自动添加系统美国CECO PCB基材测试系统美国ECI电镀药液分析系统美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪美国DICKSON温湿度记录仪美国SPELLMAN 高压电源供应器日本KETT磁感/高周波涂层测试仪日本KYORITSU水质离子测试包英国JENWAY分光光度计韩国SEC X-射线透视检查仪德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品德国WTW实验室 / 工业用水质检查系统俄罗斯PTH-1/ITM-52手提式线路板孔铜测厚仪新加坡Qtest CIMS 特性阻抗测试仪；公司代理各国名厂符合ipc标准之工业测试及精密试验室设备，服务对象为pcb、半导体、lcd、电子、连接器、五金电镀厂商及科研机构试验室。现特别*以下产品，欢迎咨询及所取产品资料。一、高品质环境测试设备全线环境测试设备包括：温湿度记录仪、可编程式温湿度控制箱、冷热冲击试验箱、老化测试箱、强制劣化试验机、盐雾试验箱、振动/落下试验机等。二、印刷电路板物理测试设备电路板样品制作设备、x射线荧光测厚仪（美国thermonoran、日本精工、韩国macropioneer）、金相微切片制作设备美国extec、德国scandia）、铜箔拉力计（美国cece之ta620、ta630、ta631）、铜箔测厚仪、层压板凝胶温度计（美国cece公司之ta650）、基板板厚测量计、线性微距测量计、v槽深度计、粘度计、电弧电阻值测量计、基板耐高压测试仪、高（低）电阻测试仪、基板拉力试验机、磨擦损耗试验机、燃烧性试验机、精密硬度计、可焊性测试仪、特性阻抗测试仪（英国）、pcb离子污染度测试仪（适用于软、硬板）、x光透视仪日本pony）（可透视内层）、岛津全自动便携式氦质谱检漏仪、微粒粒子计数仪（用于检测试验室或工厂环境洁净等级是否合格）。三、日本光学检查及视像测量设备高倍金相显微镜、视像摄取－测量－显示－处理系统、非接触式深度（高度）测量显微镜、非接触精密（xy坐标）测量显微镜、二次/三次元平面坐标测量机、电路板通孔检测显微镜、平台式立体平面检测显微镜、孔径测量计、孔规。四、电镀控制设备禾威酸碱/氧化还原自动控制设备，包括：1.化学镀铜/镍药液自动添加设备2.微蚀刻铜自动添加设备3.液冷水塔自动添加设备4.可同时控制多个水泵及输出5.符合欧洲及美国标准美国eci电镀光亮剂分析仪五、其它设备1、德国wtw全线试验室或手提水质检测设备2、纯水机3、污水重金属测量光度计4、x光*5、微型光纤分光仪6、紫外光/可见光分光光度计7、奥地利secon高效率晶圆干蚀刻/削薄机8、美国mct公司之ic检测传输机9、应用于lcd的显微检测系统10、微波射线发生器11、icp光谱仪12、日本kyoritsu污水测试包

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X射线镀层测厚仪,水质离子测试包,哈氏槽,辐射测量表,电解测厚仪标准片

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双功能型涂层厚度测试仪Dual-TypeCoatingThicknessTesterModel型号：LZ-200J产品简介：LZ-200J型膜厚计是日本KETT研制的内置打印机型双功能涂层厚度测试仪

LZ-200J电磁涡电流双制式膜厚计产品信息

双功能型涂层厚度测试仪

Dual-Type Coating Thickness Tester

Model型号：LZ-200J

产品简介：

LZ-200J型膜厚计是日本KETT研制的内置打印机型双功能涂层厚度测试仪。采用电磁感应和电涡流双重测试原理无损测试非磁性金属上（铝、黄铜、青铜、等）或磁性基材（铁或钢）上的绝缘层（如：油漆、Alumite、橡胶、塑料、珐琅、瓷漆、树脂、其他）或非磁性涂镀层（如：油漆、塑料、树脂、橡胶、珐琅、锌、铬、锡、铜、铝、其他）的厚度。

磁感应测试原理→测试原理图

测试原理图→电涡流测试原理

产品规格：

测试方法	电涡流	电磁感应
应用	非磁性基体上的绝缘涂层	磁性基材(铁或钢)上的非磁性涂镀层
测试范围	0-800µm or 32.00mils	0-1500µm或60.00mils
测试精度	<50 µm ± 1 µm, ≥50 µm ± 3%	<15 µm ± 0.3 µm, ≥15 µm ± 2%
分辨率	<100 µm, 0.1 µm; ≥ 100 µm, 1.0 µm
符合标准	JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、 ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5
统计功能	测试次数、标准偏差、Z大值、Z小值、批号
测试探头	点触式（LHP-J）	点触式（LEP-J）
显示方式	LCD数字显示器，带背光
输出功能	RS-232C接口(传输速度：2400bps)
供电电压	1.5 ("AA" 碱性电池) x 6 (主机), 打印机 ("AA" 碱性电池) x 4
大小重量	120(W)X250(D)X55(H)mm, Net 1.0kg
标准配置	标准片、铁基材、铝基材、电池、探头支架、电源适配器、打印纸、手提箱、说明书