合能阳光无接触少子寿命测试仪(MWR-SIM)，是一款功能*的无接触少子寿命测试仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的，并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.5μs到300μs,P型电阻率量程为0.8-100Ω.cm,N型电阻率量程为0.5-100Ω.cm，是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业的测量仪器。
产品特点:
■ 无接触和无损伤测量
■ 可移动扫描头，便于测量
■ 测试范围广：包括硅块、硅棒、硅片等少子寿命测量
■ 主要应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查，生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等
■ 性价比高，极大程度地降低了企业的测试成本
■ 质保期：1年
推荐工作条件:
■ 温度：15-30℃
■ 湿度：10%~80%
■ 大气压：750±30毫米汞柱
技术指标:
■ 少子寿命测试范围:0.5μs-300μs
■ 测试尺寸:尺寸不限
■ 测试时间：1-30s(具体和信号质量及测试精度有关)
■ 电阻率范围：P型：0.8Ω.cm-100Ω.cm（范围之外可测量，但将有一定测试偏差）
n型：0.5Ω.cm-100Ω.cm（范围之外可测量，但将有一定测试偏差）
■ 激光波长：980±30nm,测试功率范围：50-500mw,脉冲宽度调节范围：0.5-60μs
■ 工作频率： 10GHz±0.5
■ 仪器测试精度：±3.5％
■ 电源：～220V 50Hz 功耗＜30W
■ 微波测试单元功率：0.01W±10%
■ 扫描头尺寸：290mm *200mm *65mm, 电器控制单元: 210mm*220mm*60mm
■ 扫描头重量：3KG，电器控制单元：1kg
典型用户:
河北，江西，江苏，浙江，新疆等地拉晶铸锭客户
北京合能阳光新能源技术有限公司是一家硅材料检验仪器及服务提供商，提供全面的硅料、单晶硅片、多晶硅片等成套检验设备及*解决方案。同时，拉单晶生产所需的辅料也是我公司主营范围之
少子寿仪，红外探伤仪，氧碳含量仪，椭楄仪，型号测试仪，电阻率测试仪，蓝宝石等检测设备
无接触少子寿命测试仪：HS-SIM 产品信息
在找 无接触少子寿命测试仪：HS-SIM 产品的人还在看
