产品描述
美国GE SEB1/SEB2/SEB4双晶直探头适用于测量一些粗晶材料和薄件,探头直径21/2,7*8,6*20mm,频率1,2,4MHZ、F=20,15,12mm,订货号为57466,57467,57469.
美国GE SEB1/SEB2/SEB4双晶直探头-应用:
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剩余壁厚、锈蚀、腐蚀
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近表缺陷检测
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小零件-螺钉、螺栓、销钉
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覆层和堆焊层
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粘接检测
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火车车轮
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轴、杆、方坯芯部缺陷
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粗晶材料
美国GE SEB1/SEB2/SEB4双晶直探头-性能特征:
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近表分辨率
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与曲面和粗糙面耦合好
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散射噪声较小
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对曲面工件也能沿其轮廓进行检测
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欧款有侧装LEMO OO连接口,SEB..KF型MICRODOT侧装
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美款有固定BNC电缆
技术参数
美国GE SEB1/SEB2/SEB4双晶直探头-技术参数:
| 类型 [订购号码] | a×b [mm] | f [MHz] | AB* [mm] | N [mm]
| EB [mm] | 声束形状 编号 | 备注
| 草图 |
| 特性带宽:65% | ||||||||
| DA0.8G | 20Ø | 0.8 | 3-400 | 35 | 8 | 0.8-20/2 | 用于高衰减 | 类型15 |
| 特性带宽:40% | ||||||||
| SEB1 SEB2 SEB2-0° SEB4 SEB4-0° | 21Ø 7×18 7×18 6×20 6×20 | 1 2 2 4 4 | 3-400 2-1000 4.5-2000 1.5-2000 4-4000 | 20 15 30 12 25 | 10 5 5 2.5 2.5 | 1-21/2 2-7×18 2-7×18-0 4-6×20 4-6×20-0 |
0°意味着 两个单元的 公共角度是 0°
带宽99% |
类型15
类型16
类型17 |


















