Keithley 超低电阻配置

特点

优势

测量电阻范围为 10nΩ 至 100MΩ

测量范围非常广，专门用于超低电阻测量，以检定高导电性材料、纳米材料和超导材料。

同步的电流脉冲源，测量时间短至 50μs

限制元器件（如纳米器件和纳米材料）中的功耗，如果以非常低的功率电平进行测试，这些元器件很容易损坏。

增量模式电流反向、电阻测量技术

通过消除热偏移影响以及将读数噪声降低到 30nV p-p 噪声（典型值），进行精确的超低电阻测量。可以对多个读数进行平均，以更大程度地降低噪声。

微分电导测量

比其他电导测量技术的速度快十倍，噪声更小。无需平均多次扫描的结果，即可实现准确的测量。

纳伏表和电流源接口无缝配合

在进行电导与电阻测量时，两台仪器可以像一台仪器一样运行。

增量、微分电导和脉冲模式产生最小的电流瞬变

可以检定可易被电流尖峰损坏的设备。