
一、产品说明:
我厂生产的UV-B型紫外辐照计执行企业标准Q/HDSDY0003-2014。采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
二、产品特点:
1. 光谱及角度特性经严格校正
2. 数字液晶显示,带背光
3. 手动/自动量程切换
4. 数字输出接口(USB,冗余供电)
5. 低电量提醒
6. 自动延时关机
7. 有数字保持
8. 轻触按键操作,蜂鸣提示
三、技术参数:
1. 辐照度测量范围:(0.1~199.9×103) μW/cm2
2. 相对示值误差:±8%(相对于NIM标准)
3. 波长范围λ1,峰值波长λp :(230~275)nm,λP=254nm
4. 波长范围λ2,峰值波长λp :(275~330)nm,λP=297nm
5. 紫外带外区杂光:UV254<><0.05%
6. 角度响应特性:±5% (α≤10°)
7. 线性误差:±1%
8. 换档误差:±1%
9. 短期不稳定性:±1%(开机30min后)
10. 疲劳特性:衰减量<2%
11. 零值误差:满量程的±1%
12. 响应时间:<1秒
13. 使用环境:温度(0~40)℃;湿度<85%RH
14. 尺寸和重量:160×78×43mm;0.2kg
15. 电源:6F22型9V积层电池(非充电电池)
16. 整机功耗:<0.1VA














