高温半导体四探针电阻率测试仪，四探针法与高温系统相结合；配置高温四探针测量夹具。有气氛保护；PC软件分析数据和测量控制。自动正/负电流输出，自动正/负电压测量
功能介绍Function Introduction
四探针法与高温系统相结合；配置高温四探针测量夹具
具有气氛保护；PC软件分析数据和测量控制
温度与电阻、电阻率、电导率数据的变化曲线图谱
自动正/负电流输出，自动正/负电压测量
适用范围Application scope
高温半导体四探针电阻率测试仪
应用于企业、高等校、科研部门对半导体材料在高温下分析方阻、电阻率和电导率数据
参数资料technical data
| 规格型号 | FT-351A | FT-351B | FT-351C |
| 1.方块电阻 | 10^-5～2×10^5Ω/□ | 10^-6～2×10^5Ω/□ | 10^-4～1×10^7Ω/□ |
| 2.电阻率 | 10^-6～2×10^6Ω-cm | 10^-7～2×10^6Ω-cm | 10^-5～2×10^8Ω-cm |
| 3.测试电流 | 0.1μA;1μA;10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA | 10mA ---200pA |
| 4.PC软件界面 | 显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率 | ||
| 5.温度选购 | 常温--200℃;400℃；600℃；800℃；1000℃；1200℃；1400℃；1600℃ | ||
| 6.温度精度 | 冲温值：≤1-3℃；控温精度：±1°C | ||
| 7.升温速度 | 常温开始400℃--800℃需要15分钟；800℃-1200℃需要30分钟； 1400℃-1600℃需要250分钟—300分钟 | ||
| 8.高温材料 | 采用复合陶瓷纤维材料，具有真空成型，高温不掉粉的特征 | ||
| 9.电极探针材料 | 标配：钨电极或钼电极+电极（探针）陶瓷管 +高温陶瓷样品台，1套. | ||
| 10.探针间距 | 直线型探针，探针间距：4mm； | ||
| 11.样品要求 | 样品长度要求≥13mm 样品宽≥2mm或直径≥13mm | ||
| 12.工作电源 | 400-1200℃ 输入220V，功率2-4KW； 1400℃-1600℃输入380V，功率4-6KW | ||
| 13.标配外选购 | a电脑和打印机1套；b.标准电阻1-5个； c.S型铂铑探针电极（温度范围：200-1300度）； d.B型铂铑探针电极（温度范围：1400-1600度） | ||
高温半导体四探针电阻率测试仪
