M系列全谱直读光谱仪采用的设计和制造工艺技术，全数字化及互联网技术结合，运用高分辩率CMOS检测器，精密设计的氩气吹扫系统，使仪器具有高性能、低成本、以及具竟争力的价格。
M4应用于多基体的、高性能的全谱直读光谱仪
01 极其优异的分析性能、非常紧凑的仪器结构
02 用于多种基体、多种材料的分析，分析范围覆盖了几乎所有的重要元素，可以满足绝大多数现代铸造业的应用需求。
03 高亮度全息光栅具备3600条/mm刻线，使得分光系统具有的分辩率。
04 氩气吹扫光室配置了优化设计的低流速吹氩系统，既保证低的使用成本又保证佳的紫外区的透过率。
05 应用高分辩率多CMOS读出系统，低的暗电流、好的检出限、高的稳定性、强的灵敏度。
06 全数字化的智能复合光源DDD技术，充分满足不同基体、不同样品以及不同元素的激发要求。
07 一体式开放火花台，可以满足各种不同样品结构的分析。
08 配置多条工厂校正曲线及更多的材料分析方法和解决方案。
09 可根据用户的材料要求，延长标准曲线的测量上、下限。
精密设计的氩气吹扫系统
光室密封性强，可保持内部氩气长期纯净。
光室空间优化设计，降低氩气消耗，有效节约产生成本。
低氩气吹扫系统，确保光室UV波段测量环境。
光室充氩免除复杂的真空系统。
高分辩率CMOS检测器实现全谱分析
谱线覆盖了所有的重要元素，满足所有基体和材料的分析。
高灵敏的紫外区检测，对N的分析检测更准确。
可有效选择元素灵敏线，保证分析的准确度。
多峰拟合技术，有效消除谱线干扰，实现精准测量。
分析软件功能*
1) 基于Windows系统的多国语言的CCD全谱图形化分析软件，方便实用；
2) 管理的控制整个测量过程及为用户提供*的数据处理能力和测试报告输出能力；
3) 仪器可配置多条工厂校正曲线及更多材质分析及解决方案；
4) 软件实现全谱检测、智能扣干扰、扣暗电流、背景和噪声的算法，提高仪器的分析能力；
5) 完备的自动系统诊断功能；
6) *的数据库管理功能，可方便查询、汇总数据；
7) 智能校正算法，保证仪器稳定可靠；
8) 完备的谱线信息和干扰扣除算法，保证仪器分析更为精准；
9) 适应的Windows操作系统。
应用领域
主要技术参数
| 项目 | M4 |
| 检测基体 | 多基体 |
| 光学系统 | 帕型-龙格结构 |
| 光室结构 | 充氩循环方式 |
波长范围 | 165-580nm（可扩展） |
| 光栅焦距 | 300mm |
| 光栅刻线 | 3600条/mm |
探 测 器 | 多CMOS检测器 |
| 光源类型 | 可编程脉冲数字光源 |
| 仪器尺寸 | 714*558*270 |
| 仪器重量 | 40Kg |
