阻抗测试仪——航天伟创

LDJD-C型阻抗测试仪——航天伟创

LDJD-C介电常数测试仪采用了多项*技术：

双扫描技术——测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

双测试要素输入——测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

双数码化调谐——数码化频率调谐，数码化电容调谐。

• 适用标准

GB/T 1409-2006 《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法》（等效IEC 60250：1969）

GB/T 1693-2007 《硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法》

ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》

主要技术参数如下：

1. 信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz

2. 信号源频率精度3×10^-5 ±1个字, 6位有效数字；信号频率覆盖比11000：1；采样精度12BIT（高精度A/D采样）；

3．Q值测量范围：1～1000自动/手动量程；Q值分辨率0.1，4位有效数字；Q值测量工作误差＜5%；

4．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

5．电感测量范围：1nH～140mH，分辨率0.1nH，自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；

6．电容直接测量范围：1pF～25nF，分辨率0.1pF，准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%；                                      

7．主电容调节范围： 17～240pF（一体镀银成型，精度高）；带步进马达，电容自动搜索；                                        

8． 材料测试厚度：0.1mm~10mm；

9． 合格指示预置功能范围：5～1000；

10．LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；

11．环境温度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13.（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：

数显式微杆，平板电容器：

极片尺寸： 38mm

极片间距可调范围：≥15mm

夹具插头间距：25mm±0.01mm

夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

测微杆分辨率：0.001mm

测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm

*液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm

14. 电感组LKI-1：

分别由0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。

北京航天伟创设备科技有限公司还生产其他型号介电常数仪，型号如下：

 LDJD-A型介电常数及介质损耗测试仪  10kHz～70MHz  

 LDJD-B型介电常数及介质损耗测试仪  10kHz～110MHz

 LDJD-C型介电常数及介质损耗测试仪  100kHz～160MHz

LDJD-C型阻抗测试仪——航天伟创