X系列是一款专业应对各类芯片性能测试 的综合型半自动晶圆探针台,集成了电学、光波、微波等多种功能,高测试精度、运行效率与系统稳定性,可匹配多种测试应用环境,能为各类晶圆和器件提供可靠性测试。
产品亮点:X系列半自动探针台
- 测试运行速度≥70mm/s(目前行业较高速度为50mm/s),有效提升测试效进的多倍率成像技术,高精度测量与动态监控,点针更便捷操作
- -60℃~300℃宽泛测试温宽区
- 7*24小时全天候在片探测 自主研发软件集成系统,兼容性更强
产品参数:X系列半自动探针台


(*规格和设计如有更改,恕不另行通知。)

















