干涉测厚传感器
对于比较薄的薄膜、玻璃、涂胶等使用光谱共焦位移传感器难以测量, 使用THINKFOCUS的干涉测厚传感器可以轻松测量0.5-50μm的厚度。且可适应范围大,工作距离达到35mm,可以实现在线测量。
测量结果实时记录并导出。
操作方便无需复杂的校准,实时显示,无需复杂的点击操作。
测量速度快,是传统干涉型号100倍速度。以太网通讯,更加稳定快速。
技术参数 量程(可测量厚度范围)
0.5-50μm 工作距离 7-70mm(根据光斑不同) Z轴动态测量范围 5-10mm(对距离无苛刻要求,此范围内波动均可测量) 角度特性 ±5° 光斑尺寸 1-0.1mm(可定制大小) 精度 10nm 分辨率 1μm 测量速度 2000次/秒
思显光电技术(上海)有限公司是一家专业光谱共焦位移传感器生产商,掌握的光谱共焦测量技术,致力于工业自动化测量行业,为客户提供具有竞争力的产品和专业的解决方案。公司在英国、法国、中国等地设有研发机构,根据自动化行业的发展和客户的需求,不断创造研发新产品和新应用。公司拥有十余年的自动化行业应用经验,对生产现场有着深刻的理解,为客户提供专业负责的应用提案和技术支持。公司每一个应用的销售之前,都要求给客户做实际的测试评估,以保证客户准确的设计方案和选型。
显微干涉测厚仪 产品信息