三维轮廓测量仪
三维轮廓测量仪采用的白光共焦技术，非接触式测量，精度高抗干扰能力强。可以对产品的外观，三维形貌进行的扫描，然后再使用分析软件在扫描的三维形貌上面提取所需要的数据。专业的测量算法可以帮您获取到几乎全部的样品参数，三维轮廓、平整度、粗糙度、高差、缝宽等。高精度、高分辨率、高稳定性等优秀的性能使其成功的应用于高校、研究机构及企业的研发与生产中。
其扫描速度可达到12mm/s，0.1μm超高的测量精度可满足大多数测量要求，适应各种不同的工业生产环境，广泛应用于手机制造、航空航天等领域的微器件高精度检测。100μm~12000μm的不同量程可供您选择。200×200mm的测量范围可以测量到大多数器件的外观全貌。
型号 SM-5000 测量速度 ≤12mm/s 测量点间距 >5μm 自由设置 测量精度 0.1μm 平台大小 200×200mm X和Y方向行程 100×100mm 分辨率 0.5μm 重复精度 <1.4μm 允许负重 2Kg 量程(Z方向) 360μm/1100μm/3400μm等 精度（Z） ±0.1μm/0.5μm/1μm 采样频率 200Hz-4.5kHz 适配器额定输入 100-240V AC 0.8A 50-60Hz 控制器额定输入 24V DC 1A 1.5A(max） 传感器输入 24V DC 3A
思显光电技术（上海）有限公司是一家专业光谱共焦位移传感器生产商，掌握的光谱共焦测量技术，致力于工业自动化测量行业，为客户提供具有竞争力的产品和专业的解决方案。公司在英国、法国、中国等地设有研发机构，根据自动化行业的发展和客户的需求，不断创造研发新产品和新应用。公司拥有十余年的自动化行业应用经验，对生产现场有着深刻的理解，为客户提供专业负责的应用提案和技术支持。公司每一个应用的销售之前，都要求给客户做实际的测试评估，以保证客户准确的设计方案和选型。
SM-5000系列-全新技术 产品信息
