泰克DPO70000SX ATI 高性能示波器 泰克DPO70000SX ATI 高性能示波器
DPO70000SX ATI 高性能示波器可提供业界精准的高速信号行为捕获，以证明、验证和检定您的下一代设计。 捕获可达 70 GHz 具有更低噪声和更高保真度的信号，从而确保更准确地测量您的信号的真实特征。
Tektronix DPO70000SX ATI 高性能示波器 型号
| 型号 | 说明 | 模拟带宽 | 采样率 | 记录长度 | 模拟通道 |
|---|---|---|---|---|---|
| DPS73308SX | 双单元系统 | 33 GHz | 100 GS/s，50 GS/s | 62.5M 点 – 1G 点 | 33 GHz 时为 4 通道，23 GHz 时为 8 通道（屏幕上最多显示 4 组数据，其他数据通过程序界面显示） |
| DPO72304SX | 单台设备 | 23 GHz | 100 GS/s，50 GS/s | 62.5M 点 - 1G 点 | 2 通道为 23 GHz，4 通道为 23 GHz |
| DPO73304SX | 单台设备 | 33 GHz | 100 GS/s，50 GS/s | 62.5M 点 – 1G 点 | 33 GHz 时为 2，23 GHz 时为 4 |
| DPO77002SX | 单台设备 | 70 GHz | 200 GS/s，100 GS/s | 62.5M 点 – 1G 点 | 70 GHz 下为 1，33 GHz 下为 2 |
| DPO75002SX | 单台设备 | 50 GHz | 200 GS/s，100 GS/s | 62.5M 点 - 1G 点 | 50 GHz 时为 1，33 GHz 时为 2 |
| DPS77004SX | 双单元系统 | 70 GHz | 200 GS/s，100 GS/s | 62.5M 点 – 1G 点 | 70 GHz 下为 2，33 GHz 下为 4 |
| DPS75004SX | 双单元系统 | 50 GHz | 200 GS/s，100 GS/s | 62.5M 点 - 1G 点 | 50 GHz 下为 2，33 GHz 下为 4 |
| DPO71304SX | Single-unit | 13 GHz | 100 GS/s, 50 GS/s | 62.5M points - 1G points | 2 at 13 GHz, 4 at 13 GHz |
| DPO71604SX | Single-unit | 16 GHz | 100 GS/s, 50 GS/s | 62.5M points - 1G points | 2 at 16 GHz, 4 at 16 GHz |
Tektronix DPO70000SX ATI 高性能示波器 概述
信号完整性高。
ATI 技术处于信号保真度的前沿，可减少噪声，为下一代设计提供准确的测量结果。
ATI 优点
特点
低噪声 ATI 结构
高性能触发系统可隔离信号缺陷
严格的定时精度
精确的时基精度
通道间时滞/定时
多台设备系统定时精度和稳定性
使用 DPO7OE1 光探头 进行低噪声光测量
灵活、 多功能、 可扩展。
创新 UltraSync 架构可提供配置灵活性，让您轻松添加采集通道并保持通道间定时精度。
具备扩展空间 提高示波器可扩展性
特点
单独部署设备
轻松聚合为一个多台设备系统
快速重新配置系统
使用 DPO7OE1/DPO7OE2 探头 配置多达 16 个同步光采集通道
测量和分析工具可让您随时了解信号状况。
DPO70000SX 的应用支持包可提供验证和证明您的全新设计所需的自动一致性测试、富有洞察力的调试工具和广泛的信号连接选项。
高速串行标准 数据通信和 PAM4
使用 DPOJET 实现准确的抖动和定时分析
特点
DPOJET：全面灵活的测量工具
SDLA：强大全面的工具，用于分析和补偿串行数据链路中的信号影响
简单而广泛的 PAM4 分析 – 无需外部 CR
支持完整的 Gen3/Gen4+ 标准
自动一致性测试可获得完整、可靠且可重复的结果
功能强大的调试工具可迅速发现/解决设计挑战
立即了解技术诀窍 。
泰克应用工程团队在现场提供测量连接、示波器操作和分析工具见解方面的专家级支持。 在您的实验室或生产过程中，从引进到采用再到整合高度复杂的测量流程，我们随时为您提供帮助。
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