Park XE15具备多个特殊功能，是共享实验室处理各种样品，研究员进行多变量实验，失效分析时研究晶片等的，合理的价格搭配强健的性能设置，Park XE15能够实现多样品一次性自动成像，实现大化，您只需要将样品放在样品台上，在启动扫描程序便可，该功能还可以在相同环境条件下扫描样品，从而大大提高数据的精确性和稳定性，同时他还配有全面的扫描模式，可扫描各种尺寸的样品。
基本技术特点
100μm x 100μm扫描范围的XY柔韧导向扫描
挠性导向强力Z扫描12μm （25μm选配）
滑动连接的超亮二级管头
多样品夹头
选配编码器的XY自动样品载台
垂直对齐的电动Z载台和聚焦载台
6寸样品台
基本功能模式
标准成像 | 化学性能 | 介电/压电性能 |
真正非接触式 接触式 侧向摩擦力显微技术（LFM） 相位成像， 轻敲模式 | 功能化探针的化学力显微镜 电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM) | 静电力显微镜(EFM) 压电力显微镜（PFM） 高电压PFM |
力测量 | 磁性能 | 热性能 |
力-距离（F-D）光谱 力-体积成像 | 磁力显微镜 | 扫描热显微镜（SThM） |
电性能 | 光学性能 | 机械性能 |
导电AFM（AFM） I-V谱线 扫描开尔文探针显微镜（KPFM） 扫描电容显微镜（SCM） 扫描电阻显微镜（SSRM） 扫描隧道显微镜（STM） 时间分辨的光电流测绘（Tr-PCM） | 针尖增强拉曼光谱（TERS） | 力调制显微镜（FMM） 纳米压痕，纳米刻蚀 高压纳米刻蚀 纳米操纵 压电力显微镜（PFM） |
